[发明专利]阵列基板及其制造方法、显示装置在审
申请号: | 201811032685.2 | 申请日: | 2018-09-05 |
公开(公告)号: | CN109192704A | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 杨宇桐;黄中浩;吴旭;王兆君;豆远尧 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/12 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 张京波;曲鹏 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氧化物有源层 阵列基板 栅电极 绝缘层 构图工艺 显示装置 像素电极 漏电极 源电极 射频等离子体 薄膜晶体管 电学稳定性 工作可靠性 工艺流程 产能 基底 轰击 制备 生产成本 制造 覆盖 | ||
本发明提供一种阵列基板及其制造方法、显示装置。阵列基板的制备方法包括:形成栅电极;通过一次构图工艺形成氧化物有源层、源电极、漏电极和像素电极。阵列基板包括设置在基底上的栅电极,覆盖所述栅电极的第一绝缘层,设置在所述第一绝缘层上的氧化物有源层,设置在所述氧化物有源层上的源电极、漏电极和像素电极。本发明减少了2次构图工艺,最大限度地简化了工艺流程,大幅度降低了生产成本,提高了产能,同时避免了高压射频等离子体对氧化物有源层的轰击,提高了薄膜晶体管电学稳定性和工作可靠性。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种阵列基板及其制造方法、显示装置。
背景技术
随着显示技术的发展,大尺寸高清显示已经逐渐成为液晶显示装置(LiquidCrystal Display,LCD)和有机发光二极管显示装置(Organic Light Emitting Diode,OLED)的主要发展方向。
研究表明,传统的非晶硅(a-Si)薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)技术虽然工艺较为简单,技术比较成熟,但其较低的电子迁移率(0.5~1cm2/Vs)和开关电流比越来越难以满足大尺寸高清面板的显示需求。
低温多晶硅(LTPS)薄膜晶体管技术虽然拥有很高的电子迁移率(~100cm2/Vs)和开关电流比,但由于其制程十分复杂,制备大面积面板时工艺均一性差,良率较低,生产成本居高不下,因此难以满足大尺寸高清面板的量产需求。
新型的氧化物(Oxide)薄膜晶体管技术不仅具有较高的电子迁移率(~10cm2/Vs)和开关电流比,而且可以在低温下制备大面积均一性好的非晶态薄膜,且受可见光影响小,非常适合制备大尺寸高清面板。
但经本申请发明人研究发现,目前量产的氧化物薄膜晶体管的制作工艺复杂,生产成本较高,且氧化物薄膜晶体管的电学稳定性较差,工作可靠性较低。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题是,提供一种阵列基板及其制造方法、显示装置,以简化制作工艺,降低生产成本,同时提高氧化物薄膜晶体管的电学稳定性和工作可靠性。
为了解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种阵列基板的制备方法,包括:
形成栅电极;
通过一次构图工艺形成氧化物有源层、源电极、漏电极和像素电极。
可选地,通过一次构图工艺形成氧化物有源层、源电极、漏电极和像素电极,包括:
依次沉积绝缘层薄膜、氧化物半导体薄膜、透明导电薄膜和金属薄膜;
在所述金属薄膜上涂覆一层光刻胶,使用多色调掩膜版对所述光刻胶进行阶梯曝光,显影后形成未曝光区域、少量曝光区域、大量曝光区域和完全曝光区域,所述未曝光区域具有第一厚度的光刻胶,所述少量曝光区域具有第二厚度的光刻胶,所述大量曝光区域具有第三厚度的光刻胶,所述完全曝光区域无光刻胶,第一厚度>第二厚度>第三厚度;
通过第一次刻蚀,刻蚀掉所述完全曝光区域的金属薄膜、透明导电薄膜和氧化物半导体薄膜;
通过第一次灰化处理,去除所述大量曝光区域的光刻胶;
通过第二次刻蚀,刻蚀掉所述大量曝光区域的金属薄膜和透明导电薄膜;
通过第二次灰化处理,去除所述少量曝光区域的光刻胶;
通过第三次刻蚀,刻蚀掉所述少量曝光区域的金属薄膜,剥离剩余光刻胶,形成覆盖所述栅电极的第一绝缘层、设置在所述第一绝缘层上的氧化物有源层、设置在所述氧化物有源层上的源电极、漏电极和像素电极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造