[发明专利]阵列基板及其制造方法、显示装置在审

专利信息
申请号: 201811032685.2 申请日: 2018-09-05
公开(公告)号: CN109192704A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 杨宇桐;黄中浩;吴旭;王兆君;豆远尧 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L27/12
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 张京波;曲鹏
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 氧化物有源层 阵列基板 栅电极 绝缘层 构图工艺 显示装置 像素电极 漏电极 源电极 射频等离子体 薄膜晶体管 电学稳定性 工作可靠性 工艺流程 产能 基底 轰击 制备 生产成本 制造 覆盖
【说明书】:

发明提供一种阵列基板及其制造方法、显示装置。阵列基板的制备方法包括:形成栅电极;通过一次构图工艺形成氧化物有源层、源电极、漏电极和像素电极。阵列基板包括设置在基底上的栅电极,覆盖所述栅电极的第一绝缘层,设置在所述第一绝缘层上的氧化物有源层,设置在所述氧化物有源层上的源电极、漏电极和像素电极。本发明减少了2次构图工艺,最大限度地简化了工艺流程,大幅度降低了生产成本,提高了产能,同时避免了高压射频等离子体对氧化物有源层的轰击,提高了薄膜晶体管电学稳定性和工作可靠性。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种阵列基板及其制造方法、显示装置。

背景技术

随着显示技术的发展,大尺寸高清显示已经逐渐成为液晶显示装置(LiquidCrystal Display,LCD)和有机发光二极管显示装置(Organic Light Emitting Diode,OLED)的主要发展方向。

研究表明,传统的非晶硅(a-Si)薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)技术虽然工艺较为简单,技术比较成熟,但其较低的电子迁移率(0.5~1cm2/Vs)和开关电流比越来越难以满足大尺寸高清面板的显示需求。

低温多晶硅(LTPS)薄膜晶体管技术虽然拥有很高的电子迁移率(~100cm2/Vs)和开关电流比,但由于其制程十分复杂,制备大面积面板时工艺均一性差,良率较低,生产成本居高不下,因此难以满足大尺寸高清面板的量产需求。

新型的氧化物(Oxide)薄膜晶体管技术不仅具有较高的电子迁移率(~10cm2/Vs)和开关电流比,而且可以在低温下制备大面积均一性好的非晶态薄膜,且受可见光影响小,非常适合制备大尺寸高清面板。

但经本申请发明人研究发现,目前量产的氧化物薄膜晶体管的制作工艺复杂,生产成本较高,且氧化物薄膜晶体管的电学稳定性较差,工作可靠性较低。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题是,提供一种阵列基板及其制造方法、显示装置,以简化制作工艺,降低生产成本,同时提高氧化物薄膜晶体管的电学稳定性和工作可靠性。

为了解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种阵列基板的制备方法,包括:

形成栅电极;

通过一次构图工艺形成氧化物有源层、源电极、漏电极和像素电极。

可选地,通过一次构图工艺形成氧化物有源层、源电极、漏电极和像素电极,包括:

依次沉积绝缘层薄膜、氧化物半导体薄膜、透明导电薄膜和金属薄膜;

在所述金属薄膜上涂覆一层光刻胶,使用多色调掩膜版对所述光刻胶进行阶梯曝光,显影后形成未曝光区域、少量曝光区域、大量曝光区域和完全曝光区域,所述未曝光区域具有第一厚度的光刻胶,所述少量曝光区域具有第二厚度的光刻胶,所述大量曝光区域具有第三厚度的光刻胶,所述完全曝光区域无光刻胶,第一厚度>第二厚度>第三厚度;

通过第一次刻蚀,刻蚀掉所述完全曝光区域的金属薄膜、透明导电薄膜和氧化物半导体薄膜;

通过第一次灰化处理,去除所述大量曝光区域的光刻胶;

通过第二次刻蚀,刻蚀掉所述大量曝光区域的金属薄膜和透明导电薄膜;

通过第二次灰化处理,去除所述少量曝光区域的光刻胶;

通过第三次刻蚀,刻蚀掉所述少量曝光区域的金属薄膜,剥离剩余光刻胶,形成覆盖所述栅电极的第一绝缘层、设置在所述第一绝缘层上的氧化物有源层、设置在所述氧化物有源层上的源电极、漏电极和像素电极。

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