[发明专利]一种AEP内存DC测试方法及装置

权利要求书

1.一种AEP内存DC测试方法，其特征在于，所述方法包括：

设置AEP内存初始参数；

利用控制机对装有AEP内存的测试机台进行开机；

扫描所述AEP内存的测试参数；

根据所述初始参数和所述测试参数获取所述AEP内存的性能状态；

利用脚本对所述测试机台进行关机操作。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置AEP内存初始参数包括：

利用ipmctl采集AEP内存ID并生成ID表；

根据所述AEP内存ID表获取AEP内存初始数量；

根据所述AEP内存ID获取AEP内存初始健康状态；

利用ndctl重新创建AEP内存的空间数据块并获取所述空间数据块的初始MD5值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用控制机对装有AEP内存的测试机台进行开机包括：

获取被测机台电源状态；

判断被测机台电源是否处于关闭状态：

是，则发送开机指令控制被测机台通电开机；

否，则循环获取被测机台电源状态操作。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述扫描所述AEP内存的测试参数包括：

利用ipmctl采集AEP内存ID并生成测试ID表；

根据所述AER内存ID检索所述AEP内存的健康状态；

根据所述AEP内存测试ID表检索AEP内存的数量；

根据所述AEP内存ID检索所述AEP内存的空间数据块的MD5值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据初始参数和所述测试参数获取所述AEP内存的性能状态包括：

判断AEP内存测试参数是否与初始参数一致：

是，则判定AEP内存正常；

否，则判定AEP内存异常并保存错误日志信息。

6.一种AEP内存DC测试装置，其特征在于，所述装置包括：

参数设置单元，配置用于设置AEP内存初始参数；

控制开机单元，配置用于利用控制机对装有AEP内存的测试机台进行开机；

参数扫描单元，配置用于扫描所述AEP内存的测试参数；

性能获取单元，配置用于根据所述初始参数和所述测试参数获取所述AEP内存的性能状态；

关机操作单元，配置用于利用脚本对所述测试机台进行关机操作。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述参数设置单元包括：

初始采集模块，配置用于利用ipmctl采集AEP内存ID并生成ID表；

第一设置模块，配置用于根据所述AEP内存ID表获取AEP内存初始数量；

第二设置模块，配置用于根据所述AEP内存ID获取AEP内存初始健康状态；

第三设置模块，配置用于利用ndctl重新创建AEP内存的空间数据块并获取所述空间数据块的初始MD5值。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述控制开机单元包括：

状态获取模块，配置用于获取被测机台电源状态；

状态判断模块，配置用于判断被测机台电源是否处于关闭状态；

控制开机模块，配置用于发送开机指令控制被测机台通电开机；

循环获取模块，配置用于循环获取被测机台电源状态操作。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述参数扫描单元包括：

测试采集模块，配置用于利用ipmctl采集AEP内存ID并生成测试ID表；

状态检索模块，配置用于根据所述AER内存ID检索所述AEP内存的健康状态；

数量检索模块，配置用于根据所述AEP内存测试ID表检索AEP内存的数量；

参数检索模块，配置用于根据所述AEP内存ID检索所述AEP内存的空间数据块的MD5值。

10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述性能获取单元包括：

参数判断模块，配置用于判断AEP内存测试参数是否与初始参数一致；

正常判定模块，配置用于判定AEP内存正常；

异常判定模块，配置用于判定AEP内存异常并保存错误日志信息。