[发明专利]一种AEP内存DC测试方法及装置

说明书

本申请实施例提供一种AEP内存DC测试方法及装置，包括：设置AEP内存初始参数；利用控制机对装有AEP内存的测试机台进行开机；扫描所述AEP内存的测试参数；根据所述初始参数和所述测试参数获取所述AEP内存的性能状态；利用脚本对所述测试机台进行关机操作。本发明可以自动对AEP内存进行DC测试，无需人工进行操作，提高了测试效率和准确率，同时也节省了大量时间和人力。

技术领域

本发明属于AEP内存性能测试技术领域，具体涉及一种AEP内存DC测试方法及装置。

背景技术

AEP内存简称ApachePassDIMMs，是私有云、服务器、加速运算等上的不可或缺设备。主要定位是用于替代DRAM(动态随机存取存储器，服务器内存)，支撑持久Memory或In-Memory应用。服务器的运行需要高可靠性，当服务器含有AEP内存时，需要对其进行一系列可靠性测试，保证在未来用户手中不会出现异常。

DC测试为远程控制测试机台多次开机进而测试硬件或软件稳定性的一种测试。目前大多需要人工重复操作，浪费时间和人力。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供一种AEP内存DC测试方法及装置，以解决上述技术问题。

第一方面，本申请实施例提供一种AEP内存DC测试方法，所述方法包括：

设置AEP内存初始参数；

利用控制机对装有AEP内存的测试机台进行开机；

扫描所述AEP内存的测试参数；

根据所述初始参数和所述测试参数获取所述AEP内存的性能状态；

利用脚本对所述测试机台进行关机操作。

结合第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，所述设置AEP内存初始参数包括：

利用ipmctl采集AEP内存ID并生成ID表；

根据所述AEP内存ID表获取AEP内存初始数量；

根据所述AEP内存ID获取AEP内存初始健康状态；

利用ndctl重新创建AEP内存的空间数据块并获取所述空间数据块的初始MD5值。

结合第一方面，在第一方面的第二种实施方式中，所述利用控制机对装有AEP内存的测试机台进行开机包括：

获取被测机台电源状态；

判断被测机台电源是否处于关闭状态：

是，则发送开机指令控制被测机台通电开机；

否，则循环获取被测机台电源状态操作。

结合第一方面，在第一方面的第三种是实施方式中，所述扫描所述AEP内存的测试参数包括：

利用ipmctl采集AEP内存ID并生成测试ID表；

根据所述AER内存ID检索所述AEP内存的健康状态；

根据所述AEP内存测试ID表检索AEP内存的数量；

根据所述AEP内存ID检索所述AEP内存的空间数据块的MD5值。

结合第一方面，在第一方面的第四种实施方式中，所述根据初始参数和所述测试参数获取所述AEP内存的性能状态包括：

判断AEP内存测试参数是否与初始参数一致：

是，则判定AEP内存正常；

否，则判定AEP内存异常并保存错误日志信息。