[发明专利]单面生长石英晶体及其生长方法在审

专利信息
申请号: 201811039563.6 申请日: 2018-09-06
公开(公告)号: CN109112629A 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 刘盛浦;郭兴忠;吴兰 申请(专利权)人: 浙江博达光电有限公司
主分类号: C30B29/18 分类号: C30B29/18;C30B7/10
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司 33212 代理人: 金祺
地址: 311305 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 石英晶体 单面生长 生长 光学均匀性 对流状态 生长方向 包裹体 高压釜 光轴面 透过率 籽晶片 条纹 制备
【权利要求书】:

1.单面生长石英晶体的生长方法,首先清洗籽晶片(1)和石英石、配制去离子水及生长液备用、用去离子水清洗高压釜并用隔膜泵抽干;然后在清洗好的高压釜内放入装有石英石的原料筐,注入配置所得生长液和挂有籽晶片(1)的籽晶架(2),量好液面,将高压釜密封;之后启动控温系统,加热高压釜,进行石英晶体的单面生长,获得单面生长石英晶体;

其特征在于:

将籽晶片(1)悬挂在籽晶架(2)的方法为:

首先于籽晶片(1)的Z方向一边衬垫防粘连箔(4),并令该方向正对L形遮挡板(3)的横面;

还于籽晶片(1)的+X方向衬垫防粘连箔(4),并令该方向正对L形遮挡板(3)的立面;

之后将籽晶片(1)、防粘连箔(4)和L形遮挡板(3)固定后横挂在籽晶架(2)上,并使籽晶片(1)的Z生长方向向下。

2.根据权利要求1所述的单面生长石英晶体的生长方法,其特征在于:

所述加热高压釜采用5点测温法于72h达到恒温,包括以下步骤;

首先于生长区自上而下设置测温点T1和T2,于溶解区自上而下设置测温点T3、T4和T5:

T1:生长区第一点温度开始为室温,在6h内升至100℃,在14h内升至205℃,此时恒温6h,在10h内升至320℃,6h内升至330℃,10h内升至335℃,最后缓缓升温20h达到恒温温度340℃;

T2:生长区第二点温度开始为室温,在6h内升至105℃,在14h内升至255℃,此时恒温6h,在10h内升至325℃,6h内升至335℃,10h内升至337℃,最后缓缓升温20h达到恒温温度340℃;

T3:溶解区第一点温度开始为室温,在6h内升至120℃,在14h内升至270℃,此时恒温6h,在10h内升至340℃,6h内升至350℃,10h内升至360℃,最后缓缓升温20h达到恒温温度375℃;

T4:溶解区第二点温度开始为室温,在6h内升至120℃,在14h内升至270℃,此时恒温6h,在10h内升至340℃,6h内升至350℃,10h内升至360℃,最后缓缓升温20h达到恒温温度375℃;

T5:溶解区第三点温度开始为室温,在6h内升至120℃,在14h内升至275℃,此时恒温6h,在10h内升至345℃,6h内升至355℃,10h内升至365℃,最后缓缓升温20h达到恒温温度380℃。

3.根据权利要求1或2所述的单面生长石英晶体的生长方法,其特征在于:

所述清洗籽晶片(1)步骤如下:将去油洗净的籽晶片(1)置于过饱和状态的氟化氢铵溶液中腐蚀3~4h,之后取出籽晶片(1)于清水中清洗,再用氢氧化钠溶液中和,最后用去离子水清洗后烘干。

4.根据权利要求1或2所述的单面生长石英晶体的生长方法,其特征在于:

所述生长液包括主液和添加剂;

所述主液为NaOH,在生长液中的当量浓度为1.2±0.05N;

所述添加剂为LiOH·H2O和NaNO2

所述LiOH·H2O和NaNO2在生长液中的当量浓度均为0.07±0.01N。

5.利用如权利要求1~4任一所述的方法制备获得的单面生长石英晶体,其特征在于:

所述单面生长石英晶体的包裹体指标达到国家标准GB/T7895-2008中的Ⅰa级,条纹指标达到了国家标准GB/T7895-2008中的1级,光学均匀性达到国家标准GB/T7895-2008中的A级,且在波长400-2500nm的范围内透过率>90%。

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