[发明专利]测试间中的具有不同外观尺寸的被测装置的自动化搬运

说明书

公开一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的系统。所述系统包括机器人，所述机器人包括用于拾取DUT并将所述DUT转入和转出基块中的测试槽的末端执行器。所述系统进一步包括系统控制器，所述系统控制器包括存储器和处理器并用于控制所述机器人。并且，所述系统包括测试机架，所述测试机架包括多个基块，其中所述基块是包括用于对多个DUT进行测试的多个槽的模块化装置，并且其中所述机器人配置成使用所述末端执行器接近所述测试机架内的所述多个基块中的槽。

相关申请的交叉引用

本申请涉及2017年3月9日提交的名称为“使用利用环境空气的双风扇冷却的装置测试”第15/455,103号美国专利申请，所述申请将Roland Wolff指定为发明人，且代理人案号为ATSY-0046-01.01US。所述申请出于所有目的以全文引用的方式并入本文中。

技术领域

本申请涉及自动测试设备的领域，且更具体来说，涉及关于此类设备的自动化搬运的技术。

背景技术

自动测试设备(Automated test equipment，ATE)可为对半导体晶片或裸片、集成电路(IC)、电路板或例如固态驱动器的封装装置进行测试的任何测试组合件。ATE组合件可用于执行自动化测试，所述自动化测试快速执行测量并生成随后可进行分析的测试结果。ATE组合件的范围可从耦合到计量器的计算机系统到可包含定制的专用计算机控制系统和能够自动测试电子部件和/或半导体晶片测试(例如，片上系统(SOC)测试或集成电路测试)的多个不同测试仪器的复杂的自动化测试组合件。ATE系统既减少了花费在测试装置以确保装置像所设计得那样工作上的时间量，还可用作在给定装置到达用户之前确定故障组件在所述给定装置内的存在情况的诊断工具。

当典型的ATE系统对装置(通常被称为被测装置或DUT(device under test))进行测试时，ATE系统向所述装置施加刺激(例如，电信号)并检查所述装置的响应(例如，电流和电压)。通常，测试的最终结果是如果装置成功提供在预先建立的容差内的特定预期响应，则为“合格”，或是如果装置没有提供在预先建立的容差内的预期响应，则为“不合格”。更复杂的ATE系统能够评估发生故障的装置，以潜在地确定发生故障的一个或多个原因。

ATE系统普遍包含计算机来引导ATE系统的操作。通常，计算机运行一个或多个专用软件程序以提供：(i)测试开发环境，和(ii)装置测试环境。在测试开发环境中，用户通常创建测试程序，即，控制ATE系统的各个部分的具有一个或多个文件的基于软件的构造。在装置测试环境中，用户通常向ATE系统提供一个或多个装置以进行测试，并且根据测试程序引导ATE系统对每个装置进行测试。用户可以通过简单地向ATE系统提供额外装置并根据测试程序引导ATE系统对所述额外装置进行测试来对额外装置进行测试。因此，ATE系统使得用户能够基于测试程序以一种一致的自动化方式对多个装置进行测试。

在典型的现有技术测试环境中，DUT被放到受控制的环境箱或“烘箱”中。DUT连接到测试头的测试片。若干个DUT可连接到单个测试片，且单个测试箱可含有若干个测试片。测试片含有根据测试方案对DUT进行测试的测试电路。当DUT在烘箱中时，用户不能接触DUT，以免干扰箱内的受控制环境。当在箱内时，即使某一DUT测试结束得早，也不能在所有测试完成之前将其移除。然后，可以接近箱。

与此测试环境相关联的一个问题是环境箱的内部在测试期间不可接近，如果正在使用烘箱中的作用中的测试片进行测试，那么这种不可接近会导致某些测试片闲置。另一问题是常规的测试环境通常需要将DUT手动插入测试片和从测试片手动移除DUT，这是不利的，因为它费时、易出错，且在手动搬运期间可能会损坏DUT。另外，DUT在大批量生产环境中的手动插入和移除明显效率低下且容易出错。

发明内容