[发明专利]DC电压的毛刺检测

权利要求书

1.一种用于检测供电电源中的毛刺的电路，所述电路包括：

检测电路，所述检测电路被配置为当所述供电电源的DC电源电压中的所述毛刺的幅度超过检测阈值时，检测所述供电电源的DC电源电压中的所述毛刺，其中所述检测阈值是所述DC电源电压的函数，其中所述检测电路包括：控制电路，所述控制电路被配置为提供与通过对所述DC电源电压进行低通滤波而获得的滤波电压成比例的电流；以及电流镜电路，耦合到所述控制电路并且与所述控制电路不同，所述电流镜电路具有被配置为提供逻辑信号的输出，所述逻辑信号指示检测到的毛刺。

2.根据权利要求1所述的电路，其中所述检测阈值与所述滤波电压成比例地变化，所述滤波电压是通过对所述DC电源电压进行低通滤波获得的。

3.根据权利要求2所述的电路，其中第一电流决定所述检测阈值，所述第一电流与通过滤波所获得的所述滤波电压成比例地变化。

4.根据权利要求3所述的电路，进一步包括低通滤波器，所述低通滤波器被配置为供应所述滤波电压，所述低通滤波器被耦合在提供所述DC电源电压的所述供电电源的第一端子和第二端子之间。

5.一种用于检测供电电源中的毛刺的电路，所述电路包括：

第一低通滤波器，被配置为供应滤波电压，所述第一低通滤波器被耦合在提供DC电源电压的所述供电电源的第一端子和第二端子之间；

检测电路，被耦合到所述第一低通滤波器，并且被配置为当所述供电电源的DC电源电压中的所述毛刺的振幅超过检测阈值时，检测所述DC电源电压中的所述毛刺，所述检测阈值与所述滤波电压成比例地变化，其中所述检测电路包括：

第一支路，包括第一晶体管和第一电流源；以及

第二支路，包括第一电阻器、与所述第一晶体管镜像组装的第二晶体管、以及供应第一电流的第二电流源，所述第一电流与所述滤波电压成比例地变化。

6.根据权利要求5所述的电路，进一步包括：

第三晶体管，所述第二电流源包括与所述第三晶体管镜像组装的第四晶体管；以及

控制电路，被配置为向所述第三晶体管供应第二电流，所述第二电流与所述滤波电压成比例地变化。

7.根据权利要求6所述的电路，其中所述第一电流源包括与所述第三晶体管镜像组装的第五晶体管。

8.根据权利要求6所述的电路，其中所述控制电路包括第二电阻器，并且进一步被配置为将所述滤波电压施加在所述第二电阻器的两端，所述第二电流与流过所述第二电阻器的第三电流成比例地变化。

9.根据权利要求8所述的电路，其中所述控制电路包括：

第六晶体管，在所述第一端子和所述第二端子之间与所述第三晶体管串联连接；以及

第七晶体管，在所述第一端子和所述第二端子之间与所述第二电阻器串联，所述第七晶体管的控制端子被耦合到所述第六晶体管的控制端子。

10.根据权利要求9所述的电路，其中所述控制电路包括运算放大器，所述运算放大器具有连接到所述第一低通滤波器的输出的第一输入，具有连接到所述第七晶体管和所述第二电阻器的接合点的第二输入，并且具有连接到所述第六晶体管的控制端子和所述第七晶体管的控制端子的输出。

11.根据权利要求10所述的电路，其中所述运算放大器的所述第一输入是反相输入，并且所述运算放大器的所述第二输入是非反相输入。

12.根据权利要求5所述的电路，进一步包括第二低通滤波器，所述第二低通滤波器连接到所述第一晶体管和所述第二晶体管中的每个晶体管的控制端子。

13.根据权利要求5所述的电路，进一步包括第二低通滤波器，所述第二低通滤波器将所述第一端子耦合到所述第一电阻器。