[发明专利]DC电压的毛刺检测

说明书

本公开涉及DC电压的毛刺检测。提供了DC电压毛刺检测电路，其中检测阈值是该DC电压的函数。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年9月21日提交的法国专利申请号1758750的优先权，由此该申请通过引用的方式并入于此。

技术领域

本公开总体涉及电子电路，并且更特别地涉及DC电压的毛刺(glitch)的检测。

背景技术

电路的DC电压(特别是它的供电电源电压)的毛刺可以引起电路的故障。特别地，当电路包括机密数据时，可以由试图访问机密数据的盗印者有意地引起毛刺。

为了防止由它们的供电电源电压上的毛刺导致的电路故障，某些电路配备有对抗措施。

发明内容

因此，一个实施例克服DC电压(特别是供电电源电压)的毛刺的现有检测电路的至少某些缺点。

一个实施例提供用于检测DC电压的毛刺的电路，其中检测阈值是所述DC电压的函数。

根据一个实施例，阈值与通过对所述DC电压进行低通滤波所获得的电压成比例地变化。

根据一个实施例，第一电流决定检测阈值，该第一电流与通过滤波所获得的所述电压成比例地变化。

根据一个实施例，检测电路包括在施加所述DC电压的第一端子和第二端子之间的低通滤波器，该低通滤波器被配置为供应通过滤波所获得的所述电压。

根据一个实施例，检测电路进一步包括在第一端子和第二端子之间串联的以下项：第一支路，包括第一晶体管和第一电流源；第二支路，包括电阻元件、与第一晶体管镜像组装的第二晶体管、以及供应第一电流的第二电流源。

根据一个实施例，检测电路进一步包括：第三晶体管，第二电流源包括与第三晶体管镜像组装的第四晶体管；以及控制电路，被配置为向第三晶体管供应第二电流，第二电流与通过滤波获得的所述电压成比例地变化。

根据一个实施例，第一电流源包括与第三晶体管镜像组装的第五晶体管。

根据一个实施例，控制电路包括另一电阻元件，并且进一步被配置为将通过滤波获得的所述电压施加在所述另一电阻元件的两端，第二电流与流过所述另一电阻元件的第三电流成比例地变化。

根据一个实施例，控制电路包括：第六晶体管，在第一端子和第二端子之间与第三晶体管串联；以及第七晶体管，在第一端子和第二端子之间与所述另一电阻元件串联，第七晶体管的控制端子被耦合到第六晶体管的控制端子。

根据一个实施例，控制电路包括运算放大器，该运算放大器具有连接到低通滤波器的输出的第一输入，具有连接到第七晶体管和所述另一电阻元件的接合点的第二输入，并且具有连接到第六晶体管的控制端子和第七晶体管的控制端子的输出。

根据一个实施例，放大器的第一输入是反相输入，并且放大器的第二输入是非反相输入。

根据一个实施例，检测电路包括另一低通滤波器，该另一低通滤波器连接到第一晶体管和第二晶体管中的每个晶体管的控制端子。

根据一个实施例，检测电路包括另一低通滤波器，该另一低通滤波器将第一端子耦合到所述电阻元件。

根据一个实施例，晶体管是MOS晶体管。

根据一个实施例，晶体管是双极晶体管。

前述和其它特征和优点将在与附图有关的具体实施例的以下非限制性描述中详细讨论。

附图说明

图1示出用于检测DC电压的正毛刺的电路的一个实施例；