[发明专利]微断裂发育位置的确定方法和装置

权利要求书

1.一种微断裂发育位置的确定方法，其特征在于，包括：

根据目标地层的多个地震剖面中每个所述地震剖面对应的地震成果层位解释曲线，获取所述目标地层的平面构造图，所述平面构造图用于表示所述目标地层中每个位置的相对高度值，所述相对高度值为相对于所述目标地层的零平面的高度值；

对所述平面构造图进行平滑处理，获取平滑后的平面构造图；

根据所述平面构造图和所述平滑后的平面构造图，获取所述目标地层对应的差值平面构造图；

根据所述差值平面构造图，获取所述目标地层的微断裂发育位置；

所述根据目标地层的多个地震剖面中每个所述地震剖面对应的地震成果层位解释曲线，获取所述目标地层的平面构造图，包括：

获取每个所述地震成果层位解释曲线对应的每个剖面位置；

根据地震道的主测线、联络线、各所述剖面位置、以及每个所述剖面位置对应的地震成果层位解释曲线，获取所述目标地层的平面构造图；

所述对所述平面构造图进行平滑处理，获取平滑后的平面构造图，包括：

获取所述目标地层中所述每个位置的相对高度值；

将所述每个位置的相对高度值按照大小顺序进行排序，并将排序后的相对高度值划分为多个相对高度值集合，每个所述相对高度值集合中包含多个位置的相对高度值；

获取每个所述相对高度值集合中的中间值；

使用所述每个位置对应的所述相对高度值集合中的中间值作为所述每个位置更新后的相对高度值，获取所述平滑后的平面构造图。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述平面构造图和所述平滑后的平面构造图，获取所述目标地层对应的差值平面构造图，包括：

将所述每个位置的相对高度值、以及，所述每个位置更新后的相对高度值的差值作为所述每个位置的差值高度值，获取所述差值平面构造图。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述差值平面构造图，获取所述目标地层的微断裂发育位置，包括：

根据所述差值高度值和预设高度阈值，获取所述目标地层的微断裂发育位置。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述差值高度值和预设高度阈值，获取所述目标地层的微断裂发育位置，包括：

将大于所述预设高度阈值的所述差值高度值对应的位置确定为所述目标地层的微断裂发育位置；或者，

将大于所述预设高度阈值的所述差值高度值对应的位置确定为待选位置；

根据所述待选位置的断裂原因，获取所述目标地层的微断裂发育位置。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据目标地层的多个地震剖面中每个所述地震剖面对应的地震成果层位解释曲线，获取所述目标地层的平面构造图之前，还包括：

获取所述目标地层。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取所述目标地层，包括：

若目标区域中包含有已钻井，根据所述已钻井的测井资料，获取所述目标地层；或者，

若所述目标区域中不包含有已钻井，根据所述目标区域的相邻区域的已钻井的测井资料，获取所述目标地层；或者，

若所述目标区域中不包含有已钻井，且所述相邻区域不包含有已钻井，则根据野外露头数据，获取所述目标地层。