[发明专利]微断裂发育位置的确定方法和装置

说明书

本发明提供一种微断裂发育位置的确定方法和装置，该方法包括：根据目标地层的多个地震剖面中每个地震剖面对应的地震成果层位解释曲线，获取目标地层的平面构造图，平面构造图用于表示目标地层中每个位置的相对高度值，相对高度值为相对于目标地层的零平面的高度值；对平面构造图进行平滑处理，获取平滑后的平面构造图；根据平面构造图和平滑后的平面构造图，获取目标地层对应的差值平面构造图；根据差值平面构造图，获取目标地层的微断裂发育位置。本发明根据目标地层的平面构造图和平滑后的平面构造图之间形成的差值平面构造图，能够有效地获取微断裂发育位置。

技术领域

本发明涉及地球物理勘探开发技术领域，尤其涉及一种微断裂发育位置的确定方法和装置。

背景技术

地层断裂指的是岩层或岩体顺破裂面发生明显的位移，岩层呈现不连续、不完整状态。在地震资料中大的断裂具有明显的识别特征，如断裂在地震剖面上呈现同相轴明显错断，或者，呈现自下而上相同部位地震同相轴杂乱、连续性变差等异常特征。因为微断裂发育规模小，横向延展规律性不强，地震反射波组特征不清晰，地震剖面同相轴错断不明显，至多表现微挠曲特征，因此微断裂在地震剖面中的识别特征并不明显，特别是在地震资料品质较差的情况下，微断裂的识别就更加困难。

但由于在油气勘探开发过程中，微断裂对油气疏导和储层的改善至关重要，因此精细识别和刻画微断裂是油气勘探开发生产中的重要研究内容。而现有技术中鲜有对微断裂的精细识别的报道。

发明内容

本发明提供一种微断裂发育位置的确定方法和装置，本发明根据目标地层的平面构造图和平滑后的平面构造图之间形成的差值平面构造图，能够有效地获取微断裂发育位置。

本发明的方面提供一种微断裂发育位置的确定方法，包括：

根据目标地层的多个地震剖面中每个所述地震剖面对应的多个地震成果层位解释曲线，获取所述目标地层的平面构造图，所述平面构造图用于表示所述目标地层中每个位置的相对高度值，所述相对高度值为相对于所述目标地层的零平面的高度值；

对所述平面构造图进行平滑处理，获取平滑后的平面构造图；

根据所述平面构造图和所述平滑后的平面构造图，获取所述目标地层对应的差值平面构造图；

根据所述差值平面构造图，获取所述目标地层的微断裂发育位置。

可选的，所述根据目标地层的多个地震剖面中每个所述地震剖面对应的地震成果层位解释曲线，获取所述目标地层的平面构造图，包括：

获取每个所述地震成果层位解释曲线对应的每个剖面位置；

根据所述地震道的主测线、联络线、各所述剖面位置、以及每个所述剖面位置对应的地震成果层位解释曲线，获取所述目标地层的平面构造图。

可选的，所述对所述平面构造图进行平滑处理，获取平滑后的平面构造图，包括：

获取所述目标地层中所述每个位置的相对高度值；

将所述每个位置的相对高度值按照大小顺序进行排序，并将排序后的相对高度值划分为多个相对高度值集合，每个所述相对高度值集合中包含多个位置的相对高度值；

获取每个所述相对高度值集合中的中间值；

使用所述每个位置对应的所述相对高度值集合中的中间值作为所述每个位置更新后的相对高度值，获取所述平滑后的平面构造图。

可选的，所述根据所述平面构造图和所述平滑后的平面构造图，获取所述目标地层对应的差值平面构造图，包括：

将所述每个位置的相对高度值、以及，所述每个位置更新后的相对高度值的差值作为所述每个位置的差值高度值，获取所述差值平面构造图。