[发明专利]基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法

权利要求书

1.一种基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法,其特征在于，包括下述步骤：

1)组装纳米阵列，制成具有拉曼增强衬底结构的有序银纳米点阵活性基底纳米阵列芯片；

2)将不同浓度的人血葡萄糖含量标准样品滴加在纳米阵列芯片上，分别进行拉曼光谱测试，找到某一特征峰信息，加以比对地址信息与强度信息，进行数据统计，构造形成数据库；

3)将待测血液滴加在有序银纳米点阵活性基底的纳米阵列芯片上，进行拉曼光谱测试，将获得的拉曼光谱与数据库里存储的信息相互比对，得到待测血液葡萄糖的浓度。

2.根据权利要求1所述的基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法,其特征在于，银纳米点阵活性基底纳米阵列芯片的制备方法包括下述步骤：

1)超薄氧化铝模板的制备：高纯铝片经清洗、退火和抛光处理后，采用两步氧化法进行阳极氧化；氧化结束后，用高纯去离子水将样品冲洗干净，自然风干，在样品表面旋涂光刻胶，置于60℃恒温干燥箱内烘干，约4h后取出.以CuCl2溶液去除铝基底，最后在温度为30℃的5％磷酸溶液中进行扩孔，扩孔时间分别为55，60，65和70min.最后，将样品转移到硅片上得到结构参数不同的UTAM；

2)有序银纳米点阵活性基底的制备：将步骤1)制备的结构参数不同的UTAM样品置于蒸发镀膜设备中，在真空度为8×10^-4Pa、蒸发速率为0.3-0.5nm/s的条件下，蒸发银粉厚度为60nm.然后，用0.1mol/L的Na0H溶液去除UTAM，得到在硅衬底上的大面积高度有序、结构参数不同的银纳米点阵结构。

3.根据权利要求2所述的基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法,其特征在于，步骤1)中的两步氧化法为在温度为2℃、电压为40V、浓度为0.3mol/L的草酸溶液中，进行第一次氧化的时间为12h，一次氧化结束后，铝片表面生成一层氧化铝膜.将带有氧化层的铝片放入体积比为l：1的1.8％铬酸和6％磷酸的混合溶液中，在温度为60℃时去除氧化铝膜；用高纯去离子水反复冲洗后，放入电解槽中进行二次氧化；二次氧化与一次氧化条件相同，氧化时间为5min。

4.根据权利要求1所述的基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法,其特征在于，对步骤1)制备的结构参数不同的银纳米点阵需要进行预处理；首先将银纳米点阵浸于浓度为lmmol/L的癸硫醇溶液中，浸泡45min后取出，转移到浓度为1mmol/L的6-巯基-l-己醇溶液中，浸泡至少12h后取出，氮气吹干；所有预处理的银纳米点阵均置于真空干燥箱内备用。