[发明专利]基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法

说明书

本发明属于医疗检测领域，具体涉及一种基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法,包括下述步骤：1)组装纳米阵列，制成具有拉曼增强衬底结构的有序银纳米点阵活性基底纳米阵列芯片；2)将不同浓度的人血葡萄糖含量标准样品滴加在纳米阵列芯片上，分别进行拉曼光谱测试，找到某一特征峰信息，加以比对地址信息与强度信息，进行数据统计，构造形成数据库；3)将待测血液进行拉曼光谱测试，将获得的拉曼光谱与数据库里存储的信息相互比对，得到待测血液葡萄糖的浓度。本发明提出的基于芯片级试纸的检测人血葡萄糖含量的方法，为医学工作者和科研工作者探索微量生物医学信息提供新的实验手段，应用范围也相当广泛。

技术领域

本发明属于医疗检测领域，具体涉及一种基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法。

背景技术

随人们饮食结构与生活节奏的变化以及人口老龄化程度的提高，糖尿病发病率迅速增加，糖尿病及其并发症已成为世界各国面对的严重公共卫生问题。临床上主要通过频繁监测血糖浓度来指导用药，其中糖耐量试验，也称葡萄糖耐量试验，是诊断糖尿病的一种实验室检查方法。

临床上常用糖耐量试验来诊断病人有无糖代谢异常，常用口服的糖耐量试验，被试者清晨空腹静脉采血测定血糖浓度，然后一次服用75克葡萄糖，服糖后的1/2、1、2小时(必要时可在3小时)各测血糖一次，以测定血糖的时间为横坐标(空腹时为0时)，血糖浓度为纵坐标，绘制糖耐量曲线。其测量机理为，正常人服葡萄糖后几乎全部被肠道吸收，使血糖迅速上升，并刺激胰岛素分泌，肝糖原合成增加、分解受抑制，肝糖原分解减少，体内组织对葡萄糖的利用增加。服葡萄糖后30-60分钟血浆血糖达到最高峰(峰值<200mg/dL)以后迅速下降，在2小时左右下降到接近正常水平，3小时血糖降至正常。糖尿病时，耐糖功能低下，服葡萄糖因糖峰值超过正常，多≥200mg/dL，且高峰延迟，2小时也不能下降到正常。葡萄糖耐量试验，多用于可疑糖尿病病人，通过观察给糖前后血糖浓度的变化，借以推知胰岛素分泌情况。

目前医院采用的精确血糖测量仪器是血糖生化仪，通过抽取静脉血，利用离心机分离得到血浆，血浆通过与葡萄糖氧化酶反应氧化葡萄糖后产生过氧化氢，通过测定中间产物过氧化氢的量，进而得出血糖含量。虽然生化仪具有测量精准的优点；但是有诸多缺点：其测量用血量过多，通常要3000～5000微升，给病人带来极大痛苦。尤其是对于孕妇这类特殊人群，必要的孕期糖耐量检查所需的血样量是十分多的；检测时间慢，通常第二天才能得到结果，无法立即出结果；检测操作复杂、机器价格昂贵，只有部分医院才有配备。

近期研究出基于拉曼光谱技术的无创血糖检测法，虽具有无创伤、无污染的优点，但由于测量时皮肤表面的微小振动等变化对光学探测的影响，并无法确保检测精确度。且对检测部位的选择要求性高，不同个体,或同一个体身体上的不同位置,或不同时间血液在皮肤表层分布形态都可能产生变化；另一方面,对采样体积也相应要求。并不能实现普及和广泛应用。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中的缺陷，提供一种基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法。

本发明为实现上述目的，采用以下技术方案：

一种基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法,包括下述步骤：

1)组装纳米阵列，制成具有拉曼增强衬底结构的有序银纳米点阵活性基底纳米阵列芯片；

2)将不同浓度的人血葡萄糖含量标准样品滴加在纳米阵列芯片上，分别进行拉曼光谱测试，找到某一特征峰信息，加以比对地址信息与强度信息，进行数据统计，构造形成数据库；

3)将待测血液滴加在有序银纳米点阵活性基底的纳米阵列芯片上，进行拉曼光谱测试，将获得的拉曼光谱与数据库里存储的信息相互比对，得到待测血液葡萄糖的浓度。

2.根据权利要求1所述的基于SERS技术的芯片级试纸血糖检测方法,其特征在于，银纳米点阵活性基底纳米阵列芯片的制备方法包括下述步骤：