[发明专利]一种用于中子反射固液界面实验的温度加载装置在审

专利信息
申请号: 201811061265.7 申请日: 2018-09-12
公开(公告)号: CN109060853A 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 谢雷;李新喜;王燕;孙光爱;汪小琳 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20;G01N23/20033
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 样品池 固液界面 中子反射 恒温器 流动池 水循环 加载 加载装置 样品表面 液体流动 高分子聚合物 温度稳定性 保温状态 互不干扰 热量传递 实验成本 温度探头 循环水流 传热片 无干扰 液体池 扰动 固液
【说明书】:

发明公开了一种用于中子反射固液界面实验的温度加载装置。该装置将液体池分为两个区域,一个是用于液体流动的流动池,一个是用于实验的样品池,两个池互不干扰,使得温度加载过程中液体流动对样品表面不产生任何扰动。加载温度时,利用水循环恒温器的循环水流过流动池,再通过传热片实现流动池和样品池的热量传递,同时水循环恒温器的温度探头布置在样品池,当样品池及样品达到设定温度时,水循环恒温器转为保温状态,从而精确控制样品的待测表面的温度。该装置具有操作方便、降低实验成本、温度稳定性好以及对样品表面无干扰的特点,可以用于温度加载下固液界面尤其是高分子聚合物固液界面的中子反射实验。

技术领域

本发明属于中子反射实验技术领域,具体涉及一种用于中子反射固液界面实验的温度加载装置。

背景技术

材料表面或者界面处存在着与体相截然不同的性质,归根结底,是由于其在表面或界面处的微观结构的差异,目前测量材料表面界面结构的成熟技术较多,主要有X射线反射、中子反射和椭圆偏振光等技术,其中中子反射技术在测量磁结构、有机高分子界面以及深埋界面方面具有独特的优势。在有机高分子界面及表面测量方面,常常需要将样品表面或界面置于溶液中,以便研究其在溶液中的作用机制或变化规律。在高分子表界面的研究中,温度对高分子界面或表面结构的影响也至关重要,如现在研究的比较多的温敏材料。对于这种情况,采用液体浴加热可以保证温度的稳定性,现有的变温方式是将测试溶液作为循环液的直接变温方式,这样需要消耗较多的溶液,对于较贵的测试溶液,成本较高,而且液体流动容易对测量界面造成干扰,影响实验结果。

当前,亟需设计一种间接变温的用于中子反射固液界面的温度加载装置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种用于中子反射固液界面实验的温度加载装置。

本发明的用于中子反射固液界面实验的温度加载装置,其特点是:所述的温度加载装置包括固定支架、固定螺丝、进水管 、出水管、温度探头接线、液体池、样品、垫片、水循环恒温器、温度探头、镉片Ⅰ和镉片Ⅱ;

所述的固定支架为中空的长方体框架,固定支架的底面密封,固定支架的四个侧面和一个顶面均开孔,固定支架顶面的四个角位置开有均开有与固定螺丝匹配的螺纹孔;

所述的液体池通过固定支架侧面的开孔进入固定支架内并放置在固定支架的底面上,样品放置在液体池上,样品的待测表面向下并朝向液体池,垫片置于样品上,垫片为方形,垫片的中间开有方形孔,样品从垫片方形孔中露出;液体池、样品和垫片通过固定支架顶部的固定螺丝压紧在固定支架内;

所述的液体池包括液体池槽、传热片、隔热层、样品池、流动池和注液孔,液体池槽为顶端开口的方槽,传热片为方形金属片,传热片放置在液体池槽内部,传热片与液体池槽焊接在一起,传热片将液体池槽分成样品池和流动池两个区域,传热片密封流动池;液体池槽的外表面包覆有隔热层;

所述的镉片Ⅰ沿中子入射方向竖直贴在液体池的两个相对的侧面,镉片Ⅱ沿中子入射方向竖直贴在垫片的两个相对的侧面,样品暴露在中子场中;

所述的进水管和出水管的一端分别从与中子入射方向垂直的两个相对的侧面穿过隔热层连通流动池,进水管另一端与水循环恒温器的出水口相连,出水管的另一端与水循环恒温器的回水口相连,温度探头置于样品池中心,温度探头通过温度探头接线与水循环恒温器相连;

样品池与进水管或出水管相同的侧面上开有注液孔。

所述的液体池槽的顶端表面、样品和垫片形状大小相同。

所述的固定支架的材料为航空铝。

所述的进水管和出水管的材料为隔热硅胶。

所述的液体池槽的材料为黄铜。

所述的传热片的材料为紫铜。

所述的隔热层的材料为聚四氟乙烯。

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