[发明专利]一种动目标检测方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 201811065328.6 | 申请日: | 2018-09-12 |
公开(公告)号: | CN109255353B | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 周春平;宫辉力;李小娟;李想;杨灿坤;孟冠嘉;钟若飞;张可;郭姣 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学;中图高科(北京)信息技术有限公司 |
主分类号: | G06V10/20 | 分类号: | G06V10/20;G06T7/30 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 梁斌 |
地址: | 100037 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 目标 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种动目标检测方法,其特征在于,包括:
获取针对同一个区域成像的不同谱段的至少两幅高光谱图像;
根据预设配准算法对所述至少两幅高光谱图像进行图像配准;
基于预设检测算法对配准后的高光谱图像进行动目标检测,得到检测结果;
所述获取针对同一个区域成像的不同谱段的至少两幅高光谱图像,包括:
获取根据高光谱传感器不同谱段对同一地物成像具有时间差的至少两幅高光谱图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述获取针对同一个区域成像的不同谱段的至少两幅高光谱图像之后,所述方法还包括:
对所述至少两幅高光谱图像中的每幅图像进行数据预处理,得到预处理后的至少两幅高光谱图像;相应地,所述根据预设配准算法对所述至少两幅高光谱图像进行图像配准,包括:根据预设配准算法对所述预处理后的至少两幅高光谱图像进行图像配准。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述至少两幅高光谱图像中的每幅图像进行数据预处理,包括:
对所述至少两幅高光谱图像中的每幅图像的原始数据DN值进行辐射校正以及几何校正处理。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,根据预设配准算法对所述至少两幅高光谱图像进行图像配准,包括:
基于特征点以及特征区域的配准算法对所述至少两幅高光谱图像进行图像配准。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于预设检测算法对配准后的高光谱图像进行动目标检测,包括:
判断所述配准后的高光谱图像的数量是否小于3;
在为是时,基于帧差法对所述配准后的高光谱图像进行动目标检测;
在为否时,基于背景差法和/或光流法对所述配准后的高光谱图像进行动目标检测。
6.一种动目标检测装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取针对同一个区域成像的不同谱段的至少两幅高光谱图像;
配准模块,用于根据预设配准算法对所述至少两幅高光谱图像进行图像配准;
检测模块,用于基于预设检测算法对配准后的高光谱图像进行动目标检测,得到检测结果;
获取模块,还用于获取根据高光谱传感器不同谱段对同一地物成像具有时间差的至少两幅高光谱图像。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:预处理模块,用于对所述至少两幅高光谱图像中的每幅图像进行数据预处理,得到预处理后的至少两幅高光谱图像;相应地,所述配准模块还用于根据预设配准算法对所述预处理后的至少两幅高光谱图像进行图像配准。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述预处理模块,还用于对所述至少两幅高光谱图像中的每幅图像的原始数据DN值进行辐射校正以及几何校正处理。
9.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器 ,所述存储器和所述处理器连接;
所述存储器用于存储程序;
所述处理器用于调用存储于所述存储器中的程序,以执行如权利要求1-5中任一项所述的方法。
10.一种存储介质,其特征在于,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1-5中任一项所述的方法。
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