[发明专利]一种LED闪灯类芯片测试系统在审
| 申请号： | 201811067795.2 | 申请日： | 2018-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN109490747A | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | 潘中荣;姜胜林;赵俊;康远潺;朱锦茂 | 申请（专利权）人： | 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R19/00;G01R23/02 |
| 代理公司： | 深圳市徽正知识产权代理有限公司 44405 | 代理人： | 李想 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试模块 芯片测试系统 闪灯芯片 闪灯 测试 生产测试 输出驱动电流 通用测试设备 产品利润率 二极管 并行测试 参数测试 功率损耗 评估芯片 生产过程 低成本 全功能 芯片IC 主频率 测量 检测 节约 生产 | ||
1.一种LED闪灯类芯片测试系统，其特征在于：包括：
MCU模块；
FPGA模块；
OS测试模块，用于检测IC管脚上的保护二极管是否完好；
IDD测试模块，用于测试LED闪灯芯片工作时的电流大小，评估芯片工作时的功率损耗；
SINKCURRENT测试模块，用于测试LED闪灯芯片输出驱动电流大小；
FREQ测试模块，用于测量LED闪灯芯片的工作主频率；
Func功能测试模块，用于测试LED闪灯芯片工作时的功能是否正常；
USB通信模块模块，用于完成电脑端软件与测试系统间的通信；
TTL通讯接口模块，用于实现本系统与机械手或分选机设备之间的通讯连接，进行自动化批量生产。
2.根据权利要求1所述的一种LED闪灯类芯片测试系统，其特征在于：所述FPGA模块为INTELFPGAEP4CE6E22器件，INTELFPGAEP4CE6E22器件采用TQFP144封装，使用外部FLASH芯片进行配置，FPGA模块采用外部时钟、配置电路、下载电路与滤波电路。
3.根据权利要求1所述的一种LED闪灯类芯片测试系统，其特征在于：所述MCU模块为STM32F103芯片，MCU模块通过USB接口与电脑端软件通讯，通过TTL接口模块与外部机械手自动化设备通讯，通过USB接口与FPGA模块连接，实现FREQ和FUNC的测试模块，MCU与FPGA之间采用串行接口连接。
4.根据权利要求1所述的一种LED闪灯类芯片测试系统，其特征在于：所述IC管脚上的保护二极管主要作用是保护IC管脚不被正向或反向高压击穿而损坏，测试时通过向测试管脚施加电流实现对电压的测试。
5.根据权利要求3所述的一种LED闪灯类芯片测试系统，其特征在于：所述STM32F103芯片通过TTL接口与机械手连接，IDD测试模块使用PMU模块给测试IC供电，测试其工作电流。
6.根据权利要求1所述的一种LED闪灯类芯片测试系统，其特征在于：所述FREQ测试模块用一段小的标准时间来量取大的待测时钟的周期，进而计算出频率。
7.根据权利要求1所述的一种LED闪灯类芯片测试系统，其特征在于：所述USB通信模块包括I2C总线接口与8个额外的中断，所述FUNC功能测试模块内设有LM339芯片，LM339芯片用于进行电平转换并变换成方波后，将信号送至FPGA模块进行FUNC功能测试。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市卓精微智能机器人设备有限公司，未经深圳市卓精微智能机器人设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811067795.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种SPI FLASH类芯片测试系统
- 下一篇：一种OS测试系统
