[发明专利]一种LED闪灯类芯片测试系统

说明书

本发明公开了一种LED闪灯类芯片测试系统，包括MCU模块与FPGA模块，OS测试模块，用于检测IC管脚上的保护二极管是否完好；IDD测试模块，用于测试LED闪灯芯片工作时的电流大小，评估芯片工作时的功率损耗；SINK CURRENT测试模块，用于测试LED闪灯芯片输出驱动电流大小；FREQ测试模块，用于测量LED闪灯芯片的工作主频率。本发明所述的一种LED闪灯类芯片测试系统，实现了对该类芯片IC的全功能参数测试，为该类IC的实际测试生产提供了一种低成本的测试解决方案，同时，在实际的生产过程中，解决了通用测试设备成本高等方面的不足，使生产测试的灵活性和并行测试SITE数大大提高，缩短生产测试周期，节约成本，极大的提高产品利润率，带来更好的使用前景。

技术领域

本发明涉及LED闪灯类芯片测试领域，特别涉及一种LED闪灯类芯片测试系统。

背景技术

LED闪灯类芯片IC是一种主要用于驱动LED实现各种闪烁功能的芯片，其芯片功能简单，成本低廉，产品利润相对不高，但随着科技的发展，人们对LED闪灯类芯片测试的要求越来越高，导致传统的LED闪灯类芯片测试已经无法满足人们的使用需求；

现有LED闪灯类芯片测试在使用时存在一定的弊端，现有的LED闪灯类芯片在检测时，使用传统的测试方法对芯片进行检测，通常使用专用设备进行生产测试，势必会提高生产成本，降低产品利润，影响LED闪灯类芯片生产的价值，为此，我们提出一种LED闪灯类芯片测试系统。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种LED闪灯类芯片测试系统，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：

一种LED闪灯类芯片测试系统，包括MCU模块与FPGA模块；

OS测试模块，用于检测IC管脚上的保护二极管是否完好；

IDD测试模块，用于测试LED闪灯芯片工作时的电流大小，评估芯片工作时的功率损耗；

SINK CURRENT测试模块，用于测试LED闪灯芯片输出驱动电流大小；

FREQ测试模块，用于测量LED闪灯芯片的工作主频率；

Func功能测试模块，用于测试LED闪灯芯片工作时的功能是否正常；

USB通信模块模块，用于完成电脑端软件与测试系统间的通信；

TTL通讯接口模块，用于实现本系统与机械手或分选机设备之间的通讯连接，进行自动化批量生产。

优选的，所述FPGA模块为INTEL FPGA EP4CE6E22器件，INTEL FPGA EP4CE6E22器件采用TQFP144封装，使用外部FLASH芯片进行配置，FPGA模块采用外部时钟、配置电路、下载电路与滤波电路。

优选的，所述MCU模块为STM32F103芯片，MCU模块通过USB接口与电脑端软件通讯，通过TTL接口模块与外部机械手自动化设备通讯，通过USB接口与FPGA模块连接，实现FREQ和FUNC的测试模块，MCU与FPGA之间采用串行接口连接。

优选的，所述IC管脚上的保护二极管主要作用是保护IC管脚不被正向或反向高压击穿而损坏，测试时通过向测试管脚施加电流实现对电压的测试。

优选的，所述STM32F103芯片通过TTL接口与机械手连接，IDD测试模块使用PMU模块给测试IC供电，测试其工作电流。

优选的，所述FREQ测试模块用一段小的标准时间来量取大的待测时钟的周期，进而计算出频率。

优选的，所述USB通信模块包括I2C总线接口与8个额外的中断，所述FUNC功能测试模块包括有：