[发明专利]一种OS测试系统

权利要求书

1.一种OS测试系统，包括MCU模块、FPGA模块和待测试芯片IC，其特征在于，MCU模块包括PC端软件通讯模块、USB通信模块、PMU控制模块、TTL接口通讯模块与STM32数据通讯模块，FPGA模块包括测试通道选择模块与FPGA数据通讯模块；

USB通信模块用于实现PC端软件通讯与STM32的数据通讯端口之间的物理连接；

PC端软件通讯用于实现显示OS测试系统工作过程中检测到的芯片相关信息；

PMU控制模块用于控制OS测试系统的测试过程；

TTL接口通讯模块用于实现OS测试系统与机械手或分选机设备之间的通讯连接；

FPGA数据通讯模块用于实现MCU模块中相关信息的转化与处理并将信息输入FPGA模块过程；

测试通道选择模块用于实现OS测试系统测试芯片过程中三种不同的测试方法顺序的选择；

STM32数据通讯模块用于实现各个模块间信息传输转化。

2.根据权利要求1所述的一种OS测试系统，其特征在于：所述MCU模块核心采用STM32F407芯片，主要实现OS测试系统测试过程中的主控制，所述MCU模块通过FSMC总线与FPGA模块连接。

3.根据权利要求1所述的一种OS测试系统，其特征在于：所述TTL接口通讯模块采用了TLP281-4光耦芯片。

4.根据权利要求1所述的一种OS测试系统，其特征在于：所述MCU模块检测时使用FIMV加电流测电压和FVMV加电压测电压功能，所述MCU模块内部设置有LM358运算放大器。

5.根据权利要求1所述的一种OS测试系统，其特征在于：所述USB通信模块采用采用CY7C68013A芯片，所述USB通信模块具有第二个数据指针、具有第二个USATRT、12C总线接口和8个额外的中断，且USB通信模块内部的CPU时钟可以以12MHz、24MHz和48MHz运行。

6.根据权利要求1所述的一种OS测试系统，其特征在于：所述FPGA模块采用INTEL FPGA5CEFA4F23型号主控芯片，5CEFA4F23型号主控芯片采用FBGA484封装，其具有49K个LE，且使用外部FLASH芯片进行配置，芯片的IO数为224个。

7.根据权利要求1所述的一种OS测试系统，其特征在于：测试通道选择模块采用干簧管继电器进行通道选择切换，每个通道使用三个继电器实现，每个通道可独立与PMU、VCC、GND三个公共信号进行连接，且继电器通过FPGA模块控制驱动，测试通道选择模块选项包括正向二极管测试、反向二极管测试和相邻引脚测试。