[发明专利]一种检测单元

权利要求书

1.一种检测单元，用于检测一光学装置内设置的光学元件是否破损，所述光学装置包括光源及对应的光学元件，所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器，所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束，所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性，所述处理器与感测器相连接并根据感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。

2.如权利要求1所述的检测单元，其特征在于，所述处理器将所感测的被测光学元件的光学特性与预存的被测光学元件完好情况下的标准光学特性进行比较，并在所感测的光学特性与标准光学特性的差异值超出误差范围时判断被测光学元件存在瑕疵。

3.如权利要求2所述的检测单元，其特征在于，若所感测的光学特性与标准光学特性相同或差异值在预设的误差范围内，则所述处理器判断被测光学元件为完好的。

4.如权利要求3所述的检测单元，其特征在于，所述处理器与光源相连接，所述处理器让光源保持正常工作状态，若所述被测光学元件被判断为存在瑕疵，则所述处理器关闭光源或检索光源的发光能量。

5.如权利要求1所述的检测单元，其特征在于，所述光源包括多个发光体，所述光源的部分发光体替代检测发光体的功能发出所述检测光束，而无需另设检测发光体。

6.如权利要求5所述的检测单元，其特征在于，所述光源的多个发光体区分为用于形成光强均匀分布的泛光光束的一个或多个第一发光体以及用于形成能够投射出预设图案的图案光束的一个或多个第二发光体，所述第二发光体形成在所述光源的中部，所述第一发光体围绕在第二发光体对称分布，其中一部分位于最外层的第一发光体用于替代检测发光体来发出检测光束。

7.如权利要求6所述的检测单元，其特征在于，所述第一发光体及第二发光体形成在同一个半导体基底上，并被分别独立控制发光。

8.如权利要求5至7中任意一项所述的检测单元，其特征在于，所述第一发光体及第二发光体为垂直腔面发射激光器。

9.如权利要求6所述的检测单元，其特征在于，所述检测单元还包括光学发散元件，所述光学发散元件设置在用于发出检测光束的一部分第二发光体的发光面上以将所述第二发光体的发光角度扩大，使得检测光束能够覆盖到整个被测光学元件。

10.如权利要求1所述的检测单元，其特征在于，所述检测发光体设置在与被测光学装置的光源相同的平面上。

11.如权利要求1所述的检测单元，其特征在于，所述感测器设置在与被测光学装置的光源相同的平面上。

12.如权利要求1所述的检测单元，其特征在于，所述检测光束的光学特性包括光的强度、波长、亮度、能量分布、所形成的图案中的任意一种或几种的组合。

13.如权利要求1所述的检测单元，其特征在于，所述检测发光体包括发光二极管。