[发明专利]一种检测单元

说明书

本申请适用于光学和电子技术领域，提供了一种检测单元，用于检测一光学装置内设置的光学元件是否破损。所述光学装置包括光源及对应的光学元件。所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器。所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束。所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性。所述处理器与感测器相连接并根据感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。

技术领域

本申请属于光学技术领域，尤其涉及一种检测单元。

背景技术

现有的三维(Three Dimensional,3D)感测模组通常采用发射能量较集中的激光器作为光源来投射感测光图案，所以一旦设置在光源出光侧用于形成投射光图案的光学元件出现破损的话，高能量的激光会直接照射到使用者的眼睛上造成损害。

发明内容

本申请所要解决的技术问题在于提供一种检测单元、光学装置及设备，可以检测出所述光学装置使用的光学元件是否完好而避免光源直接伤害到使用者眼睛。

本申请实施方式提供一种检测单元，用于检测一光学装置内设置的光学元件是否破损。所述光学装置包括光源及对应的光学元件。所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器。所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束。所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性。所述处理器与感测器相连接并根据感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。

在某些实施方式中，所述处理器与光源相连接。若所感测的光学特性与标准光学特性相同或差异值在预设的误差范围内，则所述处理器判断被测光学元件为完好的，所述处理器让光源保持正常工作状态。若所述被测光学元件被判断为存在瑕疵，则所述处理器关闭光源。

在某些实施方式中，所述光源包括多个发光体。所述光源的部分发光体替代检测发光体的功能发出所述检测光束，而无需另设检测发光体。

在某些实施方式中，所述光源的多个发光体区分为用于形成光强均匀分布的泛光光束的一个或多个第一发光体以及用于形成能够投射出预设图案的图案光束的一个或多个第二发光体。所述第二发光体形成在所述光源的中部。所述第一发光体围绕在第二发光体对称分布，其中位于最外层的第一发光体用于替代检测发光体来发出检测光束。

在某些实施方式中，所述第一发光体及第二发光体形成在同一个半导体基底上，并被分别独立控制发光。

在某些实施方式中，所述第一发光体及第二发光体为垂直腔面发射激光器。

在某些实施方式中，所述检测单元还包括光学发散元件。所述光学发散元件设置在用于发出检测光束的一部分第二发光体的发光面上以将所述第二发光体的发光角度扩大，使得检测光束能够覆盖到整个被测光学元件。

在某些实施方式中，所述检测发光体设置在与被测光学装置的光源相同的平面上。

在某些实施方式中，所述感测器设置在与被测光学装置的光源相同的平面上。

本申请实施方式所提供的检测单元通过比对被测光学元件的光学特性以方便地检测出光学装置所使用的光学元件的完整度，从而防止光源从光学元件的瑕疵处透出而对使用者的眼睛造成伤害。

本申请实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请实施方式的实践了解到。

附图说明

图1是本申请第一实施方式提供的检测单元及第三实施方式提供的光学模组的结构示意图。

图2是本申请第二实施方式提供的检测单元的结构示意图。

图3是图2中所述光源的结构示意图。

图4是本申请第四实施方式提供的光学模组的结构示意图。