[发明专利]一种硅光电倍增管测试平台

权利要求书

1.一种硅光电倍增管测试平台，其特征在于：包括光源系统、硅光电倍增管系统、电压控制系统和采集分析控制系统；

其中，硅光电倍增管系统包括电路板、夹持工装和光导；

电路板上设置有与硅光电倍增管相对应的限位框，限位框形成限位空间，并且在限位空间的底部设置有具有压缩行程的触点；

在硅光电倍增管测试过程中，硅光电倍增管装设在限位框内，硅光电倍增管的触点与具有压缩行程的触点连接；

光导位于夹持工装的一端，电路板插接在夹持工装的另一端。

2.根据权利要求1所述的硅光电倍增管测试平台，其特征在于，所述具有压缩行程的触点包括伸缩探针或者导电硅胶垫。

3.根据权利要求1所述的硅光电倍增管测试平台，其特征在于，所述夹持工装包括第一板、第二板和第三板；

第二板和第三板平行设置，第一板的两端分别连接在第二板和第三板的中间位置；

第二板、第三板和第一板的一侧面形成第一夹持空间，第二板、第三板和第一板的另一侧面形成第二夹持空间，光导被夹持在第一夹持空间内，电路板插接在第二夹持空间内；

第一板上设置有与光源系统相对设置的槽孔。

4.根据权利要求3所述的硅光电倍增管测试平台，其特征在于，所述光导为柔性硅胶光导，柔性硅胶光导通过粘贴的方式与夹持工装连接。

5.根据权利要求1所述的硅光电倍增管测试平台，其特征在于，所述光源系统包括LED和混光腔；

所述混光腔包括相对设置的第一侧壁和第二侧壁，LED设置在第一侧壁上、第二侧壁上设置有出光口；

混光腔的内表面上设置有黑色的吸光和避光层；

在混光腔的外表面设置有多个定位凸起。

6.根据权利要求5所述的硅光电倍增管测试平台，其特征在于，所述光源系统还包括与采集分析控制系统连接的LED控制电路；

所述LED控制电路产生模拟脉冲信号作为LED的输入信号，用于驱动LED产生光脉冲。

7.根据权利要求5所述的硅光电倍增管测试平台，其特征在于，所述LED为与LYSO晶体发光峰值波长相同的蓝紫光二极管。

8.根据权利要求5所述的硅光电倍增管测试平台，其特征在于，所述混光腔的外表面设置有三个定位凸起。

9.根据权利要求1所述的硅光电倍增管测试平台，其特征在于，所述电压控制系统包括AD/DA转化卡和供电电压模块；

AD/DA转化卡与采集分析控制系统连接，供电电压模块与硅光电倍增管系统连接；

电压控制系统通过AD/DA转化卡控制供电电压模块输出电压大小，同时AD/DC转化卡通过分压可以读出当前供电电压值。

10.根据权利要求1所述的硅光电倍增管测试平台，其特征在于，采集分析控制系统包括ADC采集卡采集，以及与ADC采集卡采集连接的计算机；

硅光电倍增管系统的电路板与ADC采集卡连接，硅光电倍增管生成的电流信号通过整形放大后直接由高速ADC采集卡采集，ADC采集卡将采集的数据传输给计算机；

计算机可以控制信号采集的开始与停止，并离线分析储存数据。