[发明专利]一种硅光电倍增管测试平台

说明书

本发明属于光电子测试技术领域，尤其涉及一种硅光电倍增管测试平台。硅光电倍增管测试平台包括光源系统、硅光电倍增管系统、电压控制系统和采集分析控制系统；硅光电倍增管系统的电路板上设置有与硅光电倍增管相对应的限位框，限位框的限位空间的底部设置有具有压缩行程的触点；在硅光电倍增管测试过程中，将硅光电倍增管装设在限位框内，实现了每次硅光电倍增管重复放入确定位置，便于快速地更换硅光电倍增管、重复测量、形成批量测试，硅光电倍增管通过具有压缩行程的触点与电路板连接，实现了硅光电倍增管与电路板之间的柔性连接，保证了两者之间连接的可靠性，避免了硅光电倍增管不会在该过程中被压碎或划伤。

技术领域

本发明属于光电子测试技术领域，尤其涉及一种硅光电倍增管测试平台。

背景技术

正电子发射断层成像(PositronEmissionTomography，以下简称PET)探测器是PET成像设备中的关键装置，其主要功能是获得PET系统中γ光子沉积时的位置、时间和能量信息。PET探测器的性能直接决定了整个PET成像系统的性能，为了提高系统成像性能，希望所使用的正电子发射断层成像探测器具有高空间分辨率、好的时间分辨率、好的能量分辨率、高计数率等特性。

PET探测器中光电转换器的功能是将前端闪烁晶体输出的闪烁光子转化为对应的电脉冲，并进行倍增放大得到电子学系统可以处理的电脉冲信号。现有的PET探测器，其中光电转换器件通常采用光电倍增管。

硅光电倍增管由大量雪崩二极管(APD)单元组成。在硅光电倍增管的动态范围内，它输出电流的大小就和发生雪崩的微元数成正比。

硅光电倍增管的增益及探测效率随偏压增高而增高，但同时暗计数率及像素单元间的串扰也会随之提高。

当大量硅光电倍增管并联使用，希望在一定范围内使用的硅光电倍增管具有较一致的增益性能。

针对上述问题，在硅光电倍增管使用过程中，需要对硅光电倍增管的增益性能进行测试，但是现有的测试装置存在效率低，容易对硅光电倍增管造成损坏的问题。

发明内容

(一)要解决的技术问题

针对现有存在的技术问题，本发明提供一种硅光电倍增管测试平台，能够解决现有的测试装置存在的效率低，容易对硅光电倍增管造成损坏的问题。

(二)技术方案

为了达到上述目的，本发明采用的主要技术方案包括：

一种硅光电倍增管测试平台，其包括光源系统、硅光电倍增管系统、电压控制系统和采集分析控制系统；

其中，硅光电倍增管系统包括电路板、夹持工装和光导；

电路板上设置有与硅光电倍增管相对应的限位框，限位框形成限位空间，并且在限位空间的底部设置有具有压缩行程的触点；

在硅光电倍增管测试过程中，硅光电倍增管装设在限位框内，硅光电倍增管的触点与具有压缩行程的触点连接；

光导位于夹持工装的一端，电路板插接在夹持工装的另一端。

优选的，所述具有压缩行程的触点包括伸缩探针或者导电硅胶垫。

优选的，所述夹持工装包括第一板、第二板和第三板；

第二板和第三板平行设置，第一板的两端分别连接在第二板和第三板的中间位置；

第二板、第三板和第一板的一侧面形成第一夹持空间，第二板、第三板和第一板的另一侧面形成第二夹持空间，光导被夹持在第一夹持空间内，电路板插接在第二夹持空间内；

第一板上设置有与光源系统相对设置的槽孔。

优选的，所述光导为柔性硅胶光导，柔性硅胶光导通过粘贴的方式与夹持工装连接。