[发明专利]实现数据可靠读写的方法以及系统、存储介质在审

专利信息
申请号: 201811082866.6 申请日: 2018-09-17
公开(公告)号: CN109375869A 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 弗兰克·陈;颜巍 申请(专利权)人: 至誉科技(武汉)有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G06F11/30;G06F11/10;G06F11/14
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 张凯
地址: 430223 湖北省武汉市武汉东湖新技*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 误码率 存储介质 写入 存储芯片 读写 数据存储装置 判断数据 实时监测 数据存储 数据恢复 写入数据 存储 记录 检验
【权利要求书】:

1.一种实现数据可靠性读写的方法,其特征在于,包括以下步骤:

在存储芯片写入数据时,记录写入完成时的写入温度T1

实时监测存储芯片所处的环境温度T2

判断环境温度T2与写入温度T1之间的差值是否超过阈值t;

当差值超过阈值t时,对存储的数据进行检验并得到数据的误码率;

判断数据的误码率是否达到误码率阈值,如果达到误码率阈值则进行数据恢复。

2.根据权利要求1所述的实现数据可靠性读写的方法,其特征在于:

其中,记录写入温度T1的过程包括:

将存储芯片划分为多个存储区域,所述存储区域包含多个存储单位;

当存储区域被写满时,记录该时刻对应的温度T1,并被作为元数据写入存储到存储芯片的特定区域,得到每个存储单位对应的写入温度T1。

3.根据权利要求1所述的实现数据可靠性读写的方法,其特征在于:

其中,所述存储单位为存储块或存储页。

4.根据权利要求1所述的实现数据可靠性读写的方法,其特征在于:

其中,对存储的数据进行检验的过程包括:

比较所有的存储单位对应的环境温度T2与写入温度T1之间的差值并根据数值大小进行排列,优先对差值数据大的存储单位进行数据扫描。

5.根据权利要求1所述的实现数据可靠性读写的方法,其特征在于:

其中,对存储的数据进行检验的过程包括:

当没有数据写入时,对整个存储芯片的所有存储单位的数据进行扫描。

6.根据权利要求1所述的实现数据可靠性读写的方法,其特征在于:

其中,

当数据误码率达到阈值,但未超过存储芯片自身的硬件ECC纠错能力时,启动硬件ECC纠错,将完整恢复的数据再回写到新的存储单位中,同时记录下写入时的写入温度T1

当数据误码率超过存储芯片自身的硬件ECC纠错能力,启动额外的数据恢复机制来恢复数据。

7.根据权利要求6所述的实现数据可靠性读写的方法,其特征在于:

其中,设定存储芯片自身的硬件ECC纠错能力为70-85%的误码率。

8.根据权利要求6所述的实现数据可靠性读写的方法,其特征在于:

其中,所述额外的数据恢复机制包括RAID数据恢复。

9.实现数据可靠性读写的系统,其特征在于,包括:

写入温度记录模块,用于在存储芯片写入数据时,记录写入温度T1;

环境温度检测模块,用于在写入完成后,实时监测存储芯片所处的环境温度T2

判断模块,用于判断环境温度T2与写入温度T1之间的差值是否超过阈值t;

检验模块,用于在差值超过阈值t时,对存储的数据进行检验并得到数据的误码率;

数据恢复模块,判断数据的误码率是否达到误码率阈值,如果达到误码率阈值则进行数据恢复。

10.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至8任一项所述的方法。

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