[发明专利]实现数据可靠读写的方法以及系统、存储介质

说明书

本发明提供实现数据可靠读写的方法以及系统、存储介质，涉及数据存储装置以及方法，属于数据存储的方法领域方法包括以下步骤：在存储芯片写入数据时，记录写入温度T1；写入完成后，实时监测存储芯片所处的环境温度T2；判断环境温度T2与写入温度T1之间的差值是否超过阈值t，如果超过进入下一步；当差值超过阈值t时，对存储的数据进行检验并得到数据的误码率；判断数据的误码率是否达到误码率阈值，如果达到误码率阈值则进行数据恢复。对应的还提供对应的系统和存储介质。

技术领域

本发明涉及数据存储装置以及方法，属于数据存储的方法领域。

背景技术

随着闪存的更新换代，闪存中存储的数据对温度的变化越来越敏感，譬如，高温下写入的数据,在低温下读取出错的机率会大幅度增加,反之也是。

然而，越来越多的闪存比如SSD固态硬盘或是存储阵列在工业场合被使用，而这些场合的环境温度的变化是十分宽泛的：从-40℃-+85℃，这这种大温差环境下工作环境下，闪存中写入的数据会随着外界环境温度的变化发生变化，即存储芯片中的0、1数码状态发生改变，当改变到一定程度后，会导致存储的数据、文件发生损坏或是丢失。

现有技术中尚没有较好的解决方案，业界通常的方法是建立备份，即在特定的恒温环境中建立服务器或是存储中心来备份保存关键的数据，显然该种方案并不适合所有的用户，特别是不适合个人消费用户以及中小企业使用。

发明内容

本发明是为了解决上述宽温差条件下，现有技术不能较好的实现数据可靠读写的问题而进行的，目的在于提供一种实现数据可靠读写的方法以及系统，该方法应用在使用闪存的存储装置上解决了宽温差下数据可靠读写的问题。

本发明提供一种实现数据可靠性读写的方法，其特征在于，包括以下步骤：

在存储芯片写入数据时，记录写入完成时的写入温度T₁；

时监测存储芯片所处的环境温度T₂；

判断环境温度T₂与写入温度T₁之间的差值是否超过阈值t；

当差值超过阈值t时，对存储的数据进行检验并得到数据的误码率；

判断数据的误码率是否达到误码率阈值，如果达到误码率阈值则进行数据恢复。

本发明提供的实现数据可靠性读写的方法，还可以具有这样的特征，其中，记录写入温度T1的过程包括：

其中，记录写入温度T1的过程包括：

将存储芯片划分为多个存储区域，所述存储区域包含多个存储单位；

当存储区域被写满时，记录该时刻对应的温度T1，并被作为元数据写入存储到存储芯片的特定区域，得到每个存储单位对应的写入温度T1。

本发明提供的实现数据可靠性读写的方法，还可以具有这样的特征，其中，所述存储单位为存储块或存储页。

本发明提供的实现数据可靠性读写的方法，还可以具有这样的特征，其中，步骤二中实时监测环境温度T₂的采样频率为每1-30秒一次。

本发明提供的实现数据可靠性读写的方法，还可以具有这样的特征，其中，对存储的数据进行检验的过程包括：

比较所有的存储单位对应的环境温度T₂与写入温度T₁之间的差值并根据数值大小进行排列，优先对差值数据大的存储单位进行数据扫描。

本发明提供的实现数据可靠性读写的方法，还可以具有这样的特征，其中，对存储的数据进行检验的过程包括：

当没有数据写入时，对整个存储芯片的所有存储单位的数据进行扫描。