[发明专利]一种估计对数正态型单元可靠性参数的方法有效
申请号: | 201811083881.2 | 申请日: | 2018-09-17 |
公开(公告)号: | CN109284478B | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 蒋涛;饶喆;张宁;李华;徐立 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军海军工程大学 |
主分类号: | G06F17/18 | 分类号: | G06F17/18;G06F30/20;G06F119/02 |
代理公司: | 武汉汇知云专利代理事务所(普通合伙) 42283 | 代理人: | 刘焓 |
地址: | 430033 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 估计 对数 正态型 单元 可靠性 参数 方法 | ||
1.一种估计对数正态型单元可靠性参数的方法,其特征在于,针对寿命服从对数正态分布的单元开展可靠性参数估计,包括以下步骤:
步骤一:确定候选的寿命分布参数,根据已有对数正态型单元可靠性数据的分布规律,初步确定待估对数正态分布单元的寿命对数均值参数下限值μmin和对数均值参数上限值μmax及待估对数正态分布的对数标准差参数下限值σmin和对数标准差参数上限值σmax;
在确定的对数正态分布单元的寿命对数均值参数区间内,等间隔生成n1个候选对数正态分布的对数均值参数,候选参数中,相邻对数均值参数的步长相等为d1,根据对数均值参数的步长依次计算出n1个对数正态分布的对数均值参数μ1j1,其中1≤j1≤n1;
在确定的对数正态分布单元的寿命对数标准差参数区间内,等间隔生成n2个候选对数正态分布的对数标准差参数,其中,相邻对数标准差参数的步长相等为d2,根据对数标准差参数的步长依次计算出n2个对数正态分布的对数标准差参数σ1j2,其中1≤j2≤n2;
取n=n1×n2,对μ1j1和σ1j2进行遍历组合获得n组候选的分布参数(μj,σj),其中1≤j≤n;
步骤二:遍历寿命对数均值参数μj和对数标准差参数σj的组合计算似然值,对于每个候选参数组合,针对一组包含m个对数正态型单元检测信息的数据组,根据第i个检测信息所包含的在Ti时刻的单元状态信息Fi确定其对应的计算系数Wi,依据m个检测数据不断迭代更新似然值Lj,迭代之初,设定每个候选参数组合对应的似然值初始值为0,在每个候选参数组合所对应的迭代完毕后的似然值中,寻找最大值即LM,则最大似然值LM对应的μM为对数均值参数的估计值,σM为对数标准差参数的估计值。
2.根据权利要求1所述的对数正态型单元可靠性参数的方法,其特征在于:所述步骤一中生成候选分布参数的具体计算过程如下:
(1)确定对数正态分布的对数均值参数μ1j1和步长d1的具体计算过程如下:
其中,μmax表示对数正态分布的对数均值参数上限,μmin表示对数正态分布的对数均值参数下限,n1为正整数,且n1≥2;
(2)确定对数正态分布的对数标准差参数σ1j2和步长d2的具体计算过程如下:
其中,σmax表示对数正态分布的对数标准差参数上限,σmin表示对数正态分布的对数标准差参数下限,n2为正整数,且n2≥2;
(3)μ1j1和σ1j2遍历组合的计算方式为:
令j=1;第一层循环中遍历j1=1:n1,第二层循环中遍历j2=1:n2,令μj=μ1j1,σj=σ1j2,j=j+1;其中,μmax≥μ1j1≥μmin,σmax≥σ1j2≥σmin。
3.根据权利要求1所述的对数正态型单元可靠性参数的方法,其特征在于:所述步骤二中计算Wi和似然值Lj的计算公式如下:
其中,Wi为计算系数,log(*)为自然对数函数,σj为对数正态分布的对数标准差参数,μj为对数正态分布的对数均值参数。
4.根据权利要求1或3所述的一种估计对数正态型单元可靠性参数的方法,其特征在于:所述步骤二中似然值Lj的遍历计算过程如下:
(1)令j=1;
(2)令i=1,Lj=0;
(3)计算系数
其中,μj为对数正态分布的均值参数,σj为对数正态分布的对数标准差参数,μj为对数正态分布的对数均值参数,Lj为似然值,Ti为第i个产品的检测时刻;
(4)更新i=i+1,若i≤m则转(3),否则转(5);
(5)令j=j+1,若j≤n则转(2),否则(6);
(6)在Lj中找到最大值,其中j的取值范围为1≤j≤n,记其为LM,则μM为对数均值参数的估计值,σM为对数标准差参数的估计值。
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