[发明专利]一种估计对数正态型单元可靠性参数的方法有效

专利信息
申请号: 201811083881.2 申请日: 2018-09-17
公开(公告)号: CN109284478B 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 蒋涛;饶喆;张宁;李华;徐立 申请(专利权)人: 中国人民解放军海军工程大学
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18;G06F30/20;G06F119/02
代理公司: 武汉汇知云专利代理事务所(普通合伙) 42283 代理人: 刘焓
地址: 430033 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 估计 对数 正态型 单元 可靠性 参数 方法
【说明书】:

发明公开了一种估计对数正态型单元可靠性参数的方法,包括以下步骤:步骤一:确定候选的寿命分布参数,根据已有对数正态型单元可靠性数据,确定待估单元寿命对数均值参数下限值μmin和上限值μmax及寿命对数标准差参数下限值σmin和上限值σmax,并根据上下限值分别确定对数均值参数步长d1和对数标准差参数步长d2,计算出μ1j1和σ1j2,然后对μ1j1和σ1j2进行遍历组合;步骤二:遍历寿命对数均值参数μj和对数标准差参数σj的组合计算似然值。寻找最大似然值记为LM,则最大似然值LM对应的μM为寿命对数均值参数的估计值,σM为寿命对数标准差参数的估计值。本发明利用“少量的可靠性试验数据+在产品研制、生产、使用等阶段产生的大量数据”,估算产品寿命的分布规律。

技术领域

本发明属于可靠性测试技术领域,特别涉及一种估计寿命服从对数正态型分布单元可靠性参数的方法。

背景技术

可靠性是描述产品质量的核心属性,通常用寿命的分布规律(分布类型和参数)来定量描述可靠性。理论上,针对产品开展大量的可靠性试验,可以获得足够数量的产品寿命数据,然后可采用成熟的数理统计方法来估计出产品寿命的分布类型和参数。但在实际工作中,针对产品开展大量可靠性试验,往往意味着高昂的经济成本和漫长的试验耗时,因此更常见的做法是利用“少量的可靠性试验数据+在产品研制、生产、使用等阶段产生的大量数据”,估算产品寿命的分布规律。在产品的可靠性试验中,一般配备有专门的在线检测设备,用于实时监测产品的完好性状态,及时记录产品的故障时刻,因此可以获得产品寿命的数值。但在产品研制、生产、使用等这些非可靠性试验场景下,不一定配备有专门的在线检测设备,只能定期或不定期地对产品进行完好性检查,因而不能准确获知产品的故障时刻,也就无法获得寿命的数值信息。

发明内容

为了克服背景技术中存在的缺陷,本发明提供一种估计对数正态型单元可靠性参数的方法

为了实现上述目的,本发明采用的技术方案为:一种估计对数正态型单元可靠性参数的方法,包括以下步骤:

步骤一:确定候选的寿命分布参数,根据已有对数正态型单元可靠性数据的分布规律,初步确定待估对数正态分布单元的寿命对数均值参数下限值μmin和对数均值参数上限值μmax及待估对数正态分布的对数标准差参数下限值σmin和对数标准差参数上限值σmax

在确定的对数正态分布单元的寿命对数均值参数区间内,等间隔生成n1个候选对数正态分布的对数均值参数,候选参数中,相邻对数均值参数的步长相等为d1,根据对数均值参数的步长依次计算出 n1个对数正态分布的对数均值参数μ1j1,其中1≤j1≤n1;

在确定的对数正态分布单元的寿命对数标准差参数区间内,等间隔生成n2个候选对数正态分布的对数标准差参数,其中,相邻对数标准差参数的步长相等为d2,根据对数标准差参数的步长依次计算出n2个对数正态分布的对数标准差参数σ1j2,其中1≤j2≤n2;

取n=n1×n2,对μ1j1和σ1j2进行遍历组合获得n组候选的分布参数(μjj),其中1≤j≤n;

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