[发明专利]一种正态型单元的寿命分布参数估计方法

权利要求书

1.一种正态型单元的寿命分布参数估计方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，根据正态型单元使用寿命数据生成n组候选分布参数(μ2_j,σ2_j)，1≤j≤n，其中，μ2_j表示正态分布的均值参数，σ2_j表示正态分布的根方差参数，n为正整数；

步骤2，初始化似然度P_j，令

步骤3，根据k次检查结果获取的完好单元的数量Nr_i、故障单元的数量Nf_i以及检查时刻Tc_i，依次更新似然度P_j；

步骤4，在更新后的似然度P_j(1≤j≤n)中找到最大似然度，记为P_M，则似然度P_M对应的μ2_M、σ2_M分别为正态分布均值参数和根方差参数的估计结果；

所述步骤3具体包括：

步骤3.1，令i＝1，i表示检查次数；

步骤3.2，遍历计算W_j，1≤j≤n，令其中

Tc_i表示第i次检查时的检查时刻，Nr_i为第i次检查时完好单元的数量，Nf_i为第i次检查时故障单元的数量；

步骤3.3，遍历更新似然度P_j，令

步骤3.4，令i＝i+1，若i≤k则转步骤3.2，否则转步骤4，k为总检查次数。

2.根据权利要求1所述一种正态型单元的寿命分布参数估计方法，其特征在于，所述步骤1具体包括：

步骤1.1，确定正态分布的均值参数μ_j1＝μ_min+(j1-1)d1，1≤j1≤n1，其中，μ_max表示正态型单元寿命分布的均值参数上限，μ_min表示正态型单元寿命分布的均值参数下限，n1为正整数，且n1≥2；

步骤1.2，确定正态分布的根方差参数σ_j2＝σ_min+(j2-1)d2，1≤j2≤n2，其中，σ_max表示正态型单元寿命分布的根方差参数上限，σ_min表示正态型单元寿命分布的根方差参数下限，n2为正整数，且n2≥2；

步骤1.3，取n＝n1×n2，由μ_j1和σ_j2进行遍历组合获得n组候选的分布参数(μ2_j,σ2_j)，1≤j≤n。

3.根据权利要求2所述一种正态型单元的寿命分布参数估计方法，其特征在于，步骤1.3中所述的遍历采用以下方式实现：

令j＝1；

第一层循环中遍历j1＝1:n1，第二层循环中遍历j2＝1:n2，

令

μ2_j＝μ_j1；σ2_j＝σ_j2；j＝j+1；

其中，μ_max≥μ_j1≥μ_min，σ_max≥σ_j2≥σ_min。