[发明专利]光学器件的功率检测装置、方法及设备

权利要求书

1.一种光学器件的功率检测装置，其特征在于，包括：电流源、光学器件、电压信号采集模块、比较模块和现场可编程逻辑门阵列FPGA模块；所述电流源与所述光学器件连接，所述电压信号采集模块分别与所述电流源、所述比较模块和所述FPGA模块连接，所述FPGA模块还与所述比较模块连接，其中，

所述电流源用于向所述光学器件供电；

所述电压信号采集模块用于采集所述电流源对应的电压信号，并向所述比较模块发送所述电压信号；

所述FPGA模块用于确定第一参考电压，并向所述比较模块发送所述第一参考电压；

所述比较模块用于比较所述电压信号和所述第一参考电压，并在确定所述电压信号的幅值大于所述第一参考电压时，向所述FPGA模块发送第一指示信息；

所述FPGA模块还用于根据所述第一指示信息对所述电压信号进行采样，得到采样结果，并根据所述采样结果确定所述光学器件的功率；

所述FPGA模块具体用于：

执行参考电压确定操作，以得到第一参考电压，并向所述比较模块发送所述第一参考电压；

若在得到所述第一参考电压之后的预设时长内，接收到所述比较模块发送的所述第一指示信息，则对所述电压信号进行采样操作，得到一个采样结果；

若在得到所述第一参考电压之后的预设时长内，未接收到所述比较模块发送的所述第一指示信息，则执行所述参考电压确定操作，以得到新的第一参考电压；

重复执行N次所述参考电压确定操作、及M次所述采样操作之后，得到M个采样结果，并根据所述M个采样结果，确定所述光学器件的功率，所述N为预设的正整数，所述M为正整数，所述M小于或等于所述N。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电压信号采集模块包括负载电阻和第一运算单元，其中，

所述负载电阻串联在所述电流源的输入端或输出端；

所述第一运算单元并联在所述负载电阻两端，所述第一运算单元用于采集所述负载电阻两端的电压信号。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述第一运算单元包括第一运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻，其中，

所述第一电阻的一端与所述负载电阻的一端连接，所述第一电阻的另一端与所述第一运算放大器的反相输入端连接；

所述第二电阻的一端与所述第一运算放大器的反相输入端连接，所述第二电阻的另一端与所述第一运算放大器的输出端连接；

所述第三电阻的一端与所述负载电阻的另一端连接，所述第三电阻的另一端与所述第一运算放大器的同向输入端连接；

所述第四电阻的一端与所述第一运算放大器的同向输入端连接，所述第四电阻的另一端接地；

所述第一运算放大器的输出端分别与所述比较模块的输入端和所述FPGA模块的输入端连接。

4.根据权利要求2或3所述的装置，其特征在于，所述电压信号采集模块还包括第二运算单元，其中，

所述第二运算单元的输入端与所述第一运算单元的输出端连接；

所述第二运算单元的输出端与所述FPGA模块的输入端连接；所述第二运算单元用于对所述电压信号中的交流电压信号进行放大处理。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述第二运算单元包括第二运算放大器、第五电阻和第六电阻，其中，

所述第一运算单元的输出端与第二运算放大器的同向输入端连接；

所述第五电阻的一端接地，所述第五电阻的另一端与所述第二运算放大器的反向输入端连接；

所述第六电阻的一端与所述第二运算放大器的反相输入端连接，所述第六电阻的另一端与所述第二运算放大器的输出端连接；

所述第二运算放大器的输出端与所述FPGA模块的输入端连接。