[发明专利]光学器件的功率检测装置、方法及设备

说明书

本申请提供一种光学器件的功率检测装置、方法及设备，该装置包括：电流源、光学器件、电压信号采集模块、比较模块和现场可编程逻辑门阵列FPGA模块；电流源与光学器件连接，电压信号采集模块分别与电流源、比较模块和FPGA模块连接，FPGA模块还与比较模块连接，电流源用于向光学器件供电；电压信号采集模块用于采集电流源对应的电压信号，向比较模块发送电压信号；FPGA模块用于向比较模块发送第一参考电压；比较模块用于在确定电压信号的幅值大于第一参考电压时，向FPGA模块发送第一指示信息；FPGA模块用于根据第一指示信息对电压信号采样得到采样结果，根据采样结果确定光学器件的功率。提高了光学器件的功率检测效率。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种光学器件的功率检测装置、方法及设备。

背景技术

目前，很多终端设备(例如手机、电脑等设备)中包括光学器件，例如，光学器件可以包括人脸识别模块、虹膜识别模块等。

在光学器件工作过程中，由电流源向光学器件进行供电，为了防止光学器件的功率过大而对光学器件造成损伤，需要控制电流源向光学器件输入的电流大小。在现有技术中，通常采集向光学器件输入的模拟电压信号，并通过模数转换器(Analog to DigitalConverter，简称ADC)对采集得到模拟的电压信号进行模数转换，得到数字电压信号，并向控制模块发送数字电压信号，控制模块根据数字电压信号确定光学器件的功率，并根据光学器件的功率，控制电流源向光学器件输出电流的大小。

然而，ADC进行模数转换通常需要较长时间，导致光学器件的功率检测效率较低。

发明内容

本申请提供一种光学器件的功率检测装置、方法及设备，提高了光学器件的功率检测效率较低。

第一方面，本申请提供一种光学器件的功率检测装置，该装置包括电流源、光学器件、电压信号采集模块、比较模块和FPGA模块；电流源与光学器件连接，电压信号采集模块分别与电流源、比较模块和FPGA模块连接，FPGA模块还与比较模块连接。

电流源用于向光学器件供电。电压信号采集模块用于采集电流源对应的电压信号，并向比较模块发送电压信号。FPGA模块用于确定第一参考电压，并向比较模块发送第一参考电压。比较模块用于比较电压信号和第一参考电压，并在确定电压信号的幅值大于第一参考电压时，向FPGA模块发送第一指示信息。FPGA模块还用于根据第一指示信息对电压信号进行采样，得到采样结果，并根据采样结果确定光学器件的功率。

在本申请提供的光学器件的功率检测装置中，每一个第一参考电压对应一个预设电流，采样结果可以指示光学器件的电流为预设电流的时长，根据多个预设电流、及每个预设电流对应的时长可以确定得到光学器件的功率。由于FPGA模块的采样速率、以及根据采样结果计算功率的时长远小于ADC进行模数转换的效率，进而提高了光学器件的功率检测效率。

在一种可能的实施方式中，电压信号采集模块包括负载电阻和第一运算单元，其中，负载电阻串联在电流源的输入端或输出端；第一运算单元并联在负载电阻两端，第一运算单元用于采集负载电阻两端的电压信号。

在电压信号采集模型中设置负载电阻，将负载电阻两端的电压信号确定为电流源对应的电压信号，可以更加方便的采集电流源对应的电压信号。

在另一种可能的实施方式中，第一运算单元包括第一运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻，其中，第一电阻的一端与负载电阻的一端连接，第一电阻的另一端与第一运算放大器的反相输入端连接；第二电阻的一端与第一运算放大器的反相输入端连接，第二电阻的另一端与第一运算放大器的输出端连接；第三电阻的一端与负载电阻的另一端连接，第三电阻的另一端与第一运算放大器的同向输入端连接；第四电阻的一端与第一运算放大器的同向输入端连接，第四电阻的另一端接地；第一运算放大器的输出端分别与比较模块的输入端和FPGA模块的输入端连接。