[发明专利]容器供给单元和自动分析装置在审

专利信息
申请号: 201811098924.4 申请日: 2018-09-19
公开(公告)号: CN109521212A 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 中村瑞木;牧野史明 申请(专利权)人: 日本电子株式会社
主分类号: G01N35/04 分类号: G01N35/04;G01N35/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 导轨 容器供给单元 振动状态检测 励振器 传感器 振动状态控制 振动状态 振动状态变化 自动分析装置 控制信号 施加振动 外部干扰 检测 对向 支承 移动
【权利要求书】:

1.一种容器供给单元,其中,

排列导轨,其用于输送多个容器并将多个容器支承为能够移动;

励振器,其用于对所述排列导轨施加振动;

振动状态检测传感器,其用于检测所述排列导轨的振动状态;以及

振动状态控制部,其用于将所述振动状态检测传感器检测出的所述振动状态作为反馈而对向所述励振器输入的控制信号进行控制。

2.根据权利要求1所述的容器供给单元,其中,

所述振动状态控制部进行仅使所述控制信号的波形的占空比变化的控制作为所述控制信号的控制。

3.根据权利要求2所述的容器供给单元,其中,

所述振动状态检测传感器作为所述排列导轨的振动状态而对伴随所述振动而产生的所述排列导轨的位移量或者所述排列导轨的加速度进行检测。

4.根据权利要求3所述的容器供给单元,其中,

该容器供给单元还包括振幅检测部,该振幅检测部根据所述振动状态检测传感器检测出的所述振动状态来检测所述排列导轨的振动的振幅,

所述振幅检测部计算出对所述振动状态检测传感器的多个检测值进行移动平均而得到的移动平均值或者对处于预定的时间范围内的所述振动状态检测传感器的多个检测值进行平均而得到的区间平均值作为所述排列导轨的振动的振幅。

5.根据权利要求3所述的容器供给单元,其中,

振动状态控制部进行以所述振动状态检测传感器的检测值为输入值的PID控制即比例积分微分控制作为所述控制信号的控制。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的容器供给单元,其中,

该容器供给单元还包括:

多个振动体,其由支承所述排列导轨的金属材料制成;以及

板簧,其将所述多个振动体彼此间连接起来,

所述励振器由线圈构成,

由所述线圈构成的所述励振器配置在所述振动体的内部,

所述振动状态控制部将对所述励振器施加的所述控制信号的频率设定为由所述排列导轨和所述振动体形成的构造体的共振频率。

7.一种自动分析装置,其包含:反应单元,其保持容器并向保持的容器分注检查体及试剂;以及容器供给单元,其用于向所述反应单元供给容器,其中,

所述容器供给单元包括:

容器储存部,其用于储存多个容器;

容器排出部,其用于排出储存于所述容器储存部的多个容器;以及

容器排列部,其用于将自所述容器排出部排出的容器排列起来,

所述容器排列部包括:

排列导轨,其用于输送所述多个容器并将多个容器支承为能够移动;

励振器,其用于对所述排列导轨施加振动;

振动状态检测传感器,其用于检测所述排列导轨的振动状态;以及

振动状态控制部,其用于将所述振动状态检测传感器检测出的所述振动状态作为反馈而对向所述励振器输入的控制信号进行控制。

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