[发明专利]光测量装置和光测量方法在审

专利信息
申请号: 201811100645.7 申请日: 2018-09-20
公开(公告)号: CN109557059A 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 浦上恒幸;土屋广司;三轮光春 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 照射光 输出 照射 光测量装置 峰值波长 光检测器 输入端子 光源 一对一对应 检测信号 光测量 照射部 检测 测量
【说明书】:

本发明的光测量装置(1)包括照射部(10)、检测部(20)和处理部(30)。光源(11)在互不相同的照射期间输出选自3个峰值波长(λ1~λ3)中的任一个峰值波长的照射光(λn)。检测部(20)包含与照射光(λ1~λ3)一对一对应设置的光检测器(211~213)。处理部(30)具有共用地将从各光检测器(21n)输出的检测信号作为模拟值输入的输入端子,被输入在光源(11)输出照射光(λn)的照射期间输入到输入端子的模拟值,将与该模拟值对应的数字值作为表示因该照射光(λn)的照射而在样品上产生的产生光的强度的值输出。由此,实现能够简便地测量在样品上产生的光的强度的装置和方法。

技术领域

本发明涉及测量因对样品照射光而在该样品上产生的光的强度的装置和方法。

背景技术

通过测量因对样品照射光而在该样品上产生的光的强度,能够分析该样品。进行如此光测量的装置包括:输出要照射于样品的照射光的光源、检测在该样品上产生的产生光的强度并输出检测信号的光检测器、输出对应于该检测信号值(模拟值)的数字值的处理部(参照专利文献1:日本特开2004-257901号公报)。

因光照射而在样品上产生的光,为荧光、散射光、或者由非线性光学现象产生的光(例如高次谐波光、拉曼散射光等)。通过检测荧光的强度能够测量包含于样品中的荧光性物质的浓度。通过检测散射光的强度能够测量包含于样品中的散射物质的浓度和大小。另外,通过检测由非线性光学现象产生的光的强度能够测量样品的非线性特性。

发明内容

在测量将多个峰值波长的照射光分别照射于样品时在该样品上产生的光的强度的情况下,需要与照射光的峰值波长的数目相应地准备包含上述光源、光检测器和处理部的装置。

本发明的目的在于提供一种能够更加简便地测量在分别将多个峰值波长的照射光照射于样品时在该样品上产生的光的强度的装置和方法。

本发明的光测量装置是一种测量因对样品照射光而在该样品上产生的光的强度的装置,其包括:(1)照射部,其包含输出选自多个峰值波长中的任一个峰值波长的照射光的光源,将从光源输出的各个峰值波长的照射光在互不相同的照射期间照射于样品;(2)检测部,其包含与多个峰值波长一对一对应设置的多个光检测器,利用各光检测器接收因对应的峰值波长的照射光的照射而在样品上产生的产生光中的、在与照射光的照射方向不同的方向上发射的产生光,检测该接收的产生光的强度并输出检测信号;和(3)处理部,其具有共用地将从多个光检测器分别输出的检测信号作为模拟值输入的输入端子,并且被输入在光源输出各个峰值波长的照射光的照射期间输入到输入端子的模拟值,将与该模拟值对应的数字值作为表示因该峰值波长的照射光的照射而在样品上产生的产生光的强度的值输出。

本发明的光测量方法是测量因对样品照射光而在该样品上产生的光的强度的方法,其包括:(1)光照射步骤,在包含输出选自多个峰值波长中的任一个峰值波长的照射光的光源的照射部中,在互不相同的照射期间将从光源输出的各个峰值波长的照射光照射于样品;(2)光检测步骤,在包含与多个峰值波长一对一对应设置的多个光检测器的检测部中,利用各光检测器接收因对应的峰值波长的照射光的照射而在样品上产生的产生光中的、在与照射光的照射方向不同的方向上发射的产生光,检测该接收的产生光的强度并输出检测信号;和(3)信号处理步骤,在具有共用地将从多个光检测器分别输出的检测信号作为模拟值输入的输入端子的处理部中,输入在光源输出各个峰值波长的照射光的照射期间输入到输入端子的模拟值,将与该模拟值对应的数字值作为表示因该峰值波长的照射光的照射而在样品上产生的产生光的强度的值输出。

根据本发明,能够更加简便地测量在将多个峰值波长的照射光分别照射于样品时在该样品上产生的光的强度。

附图说明

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