[发明专利]一种基板图案阵列的完整性检测方法有效

专利信息
申请号: 201811114028.2 申请日: 2018-09-25
公开(公告)号: CN109378277B 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 刘哲 申请(专利权)人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 图案 阵列 完整性 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基板图案阵列的完整性检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

灰度图获取步骤,用以获取基板图案阵列的灰度图;

数值化处理步骤,用以对所述灰度图进行数值化处理,得到灰度值信号;

傅里叶转换步骤,用以将灰度值信号转换为频率域的信号的分布;

对比分析步骤,用以对频率域的信号的分布进行分析,得到所述基板图案阵列的完整性信息;

所述基板图案阵列的完整性信息,包括图案完整和一致,和/或图案缺失,和/或图案偏移,和/或图案形变;

当基板图案阵列中图案完整和一致时,则特征频率对应的位置处无杂讯峰;当基板图案阵列中图案缺失时,则特征频率对应的位置处出现杂讯峰,且在低频位置出现杂讯峰,当图案连续缺失数目增多,则特征频率对应的位置处出现的杂讯峰向左移动;

当基板图案阵列中图案形变膨胀时,则特征频率对应的右移位置处出现杂讯峰;

当基板图案阵列中图案偏移时,则在高频域上出现杂讯峰。

2.根据权利要求1所述的基板图案阵列的完整性检测方法,其特征在于,所述数值化处理步骤中,包括

像素点灰度值计算步骤,用以计算所述灰度图中每一像素点的灰度值;

“灰度值-位置坐标”曲线图建立步骤,以像素点的获取时的次序或方向为横坐标,该横坐标为位置坐标方向,以与所述位置坐标对应的像素点的灰度值分布为纵坐标,建立“灰度值-位置坐标”的曲线图。

3.根据权利要求2所述的基板图案阵列的完整性检测方法,其特征在于,所述傅里叶转换步骤中,包括将“灰度值-位置坐标”曲线图中的某一位置的波形信号分解成有限个已知正弦或者余弦信号的和值,并对有限个已知正弦或者余弦信号的和值形成的信号作带通滤波,转换成频率域的“强度-频率”信号的图形。

4.根据权利要求3所述的基板图案阵列的完整性检测方法,其特征在于,在所述频率域的“强度-频率”信号图形中,特征频率表示有限个已知主频率信号的合集,其中,主频率位置与基板图案阵列的分布的密度强相关。

5.根据权利要求4所述的基板图案阵列的完整性检测方法,其特征在于,在对比分析步骤中,包括根据特征频率的相对位置或绝对位置,判断基板图案阵列的周期分布及尺寸规格是否满足设计要求。

6.根据权利要求5所述的基板图案阵列的完整性检测方法,其特征在于,所述基板图案阵列包括像素定义层的像素图案、间隙控制层的PS柱图案以及金属层的金属走线图案。

7.根据权利要求6所述的基板图案阵列的完整性检测方法,其特征在于,所述基板图案阵列中,图案的尺寸范围为图案的密范围为10ppi-106ppi。

8.根据权利要求7所述的基板图案阵列的完整性检测方法,其特征在于,所述灰度图获取步骤中,采用CCD相机对基板图案阵列进行扫描,扫描速度为1m/s。

9.根据权利要求8所述的基板图案阵列的完整性检测方法,其特征在于,所述特征频率有效范围为

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电半导体显示技术有限公司,未经武汉华星光电半导体显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811114028.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top