[发明专利]一种X射线荧光光谱分析冶炼烟尘中氟氯的方法在审

专利信息
申请号: 201811118189.9 申请日: 2018-09-26
公开(公告)号: CN109030528A 公开(公告)日: 2018-12-18
发明(设计)人: 杨建友;谢庭芳;顾利坤;付光;卢文鹏;李杰;张特 申请(专利权)人: 云南驰宏锌锗股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 代理人: 李中强
地址: 655011 *** 国省代码: 云南;53
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光谱分析 冶炼烟尘 冶炼烟气 氟氯 制备 硼酸 漂移 测量条件选择 金属冶炼过程 标准样品 分析过程 分析数据 监控样品 生产控制 校准曲线 样品分析 药品材料 冶金分析 粘结剂 废酸 校正 废水 分析 绘制 消耗 测试 检测 节约 污染
【权利要求书】:

1.一种X射线荧光光谱分析冶炼烟尘中氟氯的方法,其特征在于包括以下步骤:

(1)分析样片制备:称取样品6.000±1克,加入粘结剂0.500~1.000g,放入振动磨中磨制到-200目,取适量样品至压片机模具中,加入硼酸镶边衬底,使样品压制成均匀、光洁的分析样片;

(2)标准样品和监控样品制备:对冶炼过程氧化锌烟尘进行收集、采样,放入振动磨中磨制到-200目,采用比色法和容量分析滴定法分别对其中的氟、氯含量进行测定,通过重复性实验,筛选出标准样品和监控样品;

(3)测试条件选择:根据所使用仪器的类型、试样组成、共存元素及其含量变化范围选择合适的测试条件;

(4)校准曲线绘制:用X射线荧光光谱仪测量一系列与试样基体匹配的步骤(2)中制备好的标准样品,用SuperQ软件,测量出标准样品中氟氯的X射线荧光强度,用基本参数法或理论α系数法校正元素间谱线重叠干扰和基体效应,对标准样品中氟、氯的荧光强度与其含量进行计算,求出标准曲线常数a,b,c和谱线重叠常数β,经SuperQ软件计算出最终的校准曲线;

(5)漂移校正;

(6)样品分析:用X射线荧光光谱仪对步骤(1)的样品进行强度测量,由校准曲线计算出氟、氯的含量。

2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱分析冶炼烟尘中氟氯的方法,其特征在于:步骤(1)分析样片的压制压力为15-30吨,保压时间为30-40秒。

3.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱分析冶炼烟尘中氟氯的方法,其特征在于:步骤(2)中标准样品中氟、氯含量范围应在0.01%~2%之间,浓度梯度大于0.01%,监控样品覆盖于校准曲线的上限和下限之间。

4.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱分析冶炼烟尘中氟氯的方法,其特征在于:步骤(3)的测试条件为:分析谱线Kα,发生器高压25kv,光管电流160mA,准直器:F选择700um、Cl选择300um,分析晶体F选择PX1,Cl选择Ge111,探测器为Flow探测器。

5.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱分析冶炼烟尘中氟氯的方法,其特征在于:步骤(4)中标准样品的氟、氯测试时间为30-60秒。

6.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱分析冶炼烟尘中氟氯的方法,其特征在于:步骤(4)测量真空度<-50Pa,测量过程中真空度恒定。

7.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱分析冶炼烟尘中氟氯的方法,其特征在于:在步骤(5)中,每日定时对监控样品进行确认分析,当仪器出现漂移时,通过测量监控样品的X射线荧光强度对仪器进行漂移校正。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于云南驰宏锌锗股份有限公司,未经云南驰宏锌锗股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811118189.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top