[发明专利]错误比特个数估计方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.错误比特个数估计方法，其特征在于，包括：

统计设定区间内的测试错误比特个数以及对应的测试不满足校验子个数；

根据统计结果建立初始模型；

对初始模型进行拟合，形成目标模型；

在使用时对输入译码器的码字计算实际不满足校验子个数；

利用目标模型和实际不满足校验子个数估算实际错误比特个数；

所述统计设定区间内的测试错误比特个数以及对应的测试不满足校验子个数，包括：

获取原始数据；

对原始数据进行编码，获取测试码字；

设定随机注入的测试错误比特个数的区间、步长以及最大统计次数；

利用随机数产生对应的测试错误比特个数；

将测试错误比特个数加入测试码字；

根据测试码字计算测试不满足校验子个数；

记录测试错误比特个数对应的测试不满足校验子个数；

判断记录次数是否达到最大统计次数；

若否，则返回所述利用随机数产生对应的测试错误比特步骤；

若是，则根据步长重新设定注入的测试错误比特个数；

判断注入的测试错误比特个数是否达到区间的最大值；

若是，则进入所述根据测试错误比特个数以及对应的测试不满足校验子个数建立初始模型步骤；

若否，则返回所述利用随机数产生对应的测试错误比特步骤。

2.根据权利要求1所述的错误比特个数估计方法，其特征在于，所述根据统计结果建立初始模型，包括：

对同一测试错误比特个数对应的测试校验子个数取平均值，以形成目标校验子个数；

根据测试错误比特个数的区间及对应的目标校验子个数，获取关系曲线，以得到初始模型。

3.根据权利要求2所述的错误比特个数估计方法，其特征在于，所述对初始模型进行拟合，形成目标模型，包括：

根据关系曲线对目标校验子个数进行阈值区间划分；

根据划分结果以及拟合公式采用最小方差进行分段拟合，确定影响因子和偏移值；

根据影响因子和偏移值确定目标模型。

4.根据权利要求3所述的错误比特个数估计方法，其特征在于，所述拟合公式包括：;其中,，；为比例影响因子，为偏移值。

5.根据权利要求3所述的错误比特个数估计方法，其特征在于，所述利用目标模型和实际不满足校验子个数估算实际错误比特个数，包括：

获取实际不满足校验子个数所在的实际区间；

利用实际区间的目标模型，根据实际不满足校验子个数估算实际错误比特个数。

6.错误比特个数估计装置，其特征在于，包括：

统计单元，用于统计设定区间内的测试错误比特个数以及对应的测试不满足校验子个数；

初始模型建立单元，用于根据统计结果建立初始模型；

拟合单元，用于对初始模型进行拟合，形成目标模型；

实际个数计算单元，用于在使用时对输入译码器的码字计算实际不满足校验子个数；

比特个数估算单元，用于利用目标模型和实际不满足校验子个数估算实际错误比特个数；

所述统计单元包括：

数据获取模块，用于获取原始数据；

编码模块，用于对原始数据进行编码，获取测试码字；

设定模块，用于设定随机注入的测试错误比特个数的区间、步长以及最大统计次数；

随机产生模块，用于利用随机数产生对应的测试错误比特个数；

加入模块，用于将测试错误比特个数加入测试码字；

计算模块，用于根据测试码字计算测试不满足校验子个数；

记录模块，用于记录测试错误比特个数对应的测试校验子个数；

次数判断模块，用于判断记录次数是否达到最大统计次数；若否，则返回所述利用随机数产生对应的测试错误比特步骤；

步长设定模块，用于若是，则根据步长重新设定注入的测试错误比特个数；

区间判断模块，用于判断注入的测试错误比特个数是否达到区间的最大值；若是，则进入所述根据测试错误比特个数以及对应的测试不满足校验子个数建立初始模型步骤；若否，则返回所述利用随机数产生对应的测试错误比特步骤。