[发明专利]一种量子测控数据的处理方法及装置

说明书

本发明公开了一种量子测控数据的处理方法及装置，属于量子测控技术领域。它包括以下步骤：获取量子测控数据的分布图；根据所述分布图判断所述量子测控数据的分布符合的函数关系；若判断所述量子测控数据的分布不符合函数关系，则对所述量子测控数据进行梯度降噪处理；若判断所述量子测控数据的分布符合函数关系，则根据所述函数关系对应的函数模型对所述量子测控数据进行函数拟合降噪处理。本发明实现了量子测控数据的去噪，提高了去噪后得到的数据的准确度。

技术领域

本发明属于量子测控领域，具体地说，涉及一种量子测控数据的处理方法及装置。

背景技术

在量子芯片的制造中，需要对量子芯片进行测试，通常采用网络分析仪采集测试数据，采集到的数据一方面存储起来作为测控数据，另一方面在存储的同时在网络分析仪上以震荡波的形式呈现出来，以便观察。后期可以对存储起来的测控数据进行处理和利用，以用来理解数据背后的物理数学意义，甚至可以根据构建相应的模型，通过借助模型来预测数据未来的走向发展。

通常量子测控时在网络分析仪中呈现的震荡波存在着振荡频率高、波形较不稳定和噪声大的特点，根据震荡波的特点可以得知量子测控数据具有噪声大、数据分布规律性不强的特点，该特点导致后续量子测控数据处理得到的数据准确度低。

因此，选择合适的处理方法以降噪并获得准确量子测控数据至关重要。

发明内容

1、要解决的问题

针对现有测量数据振荡频率高、波形较不稳定和噪声大的特点导致的处理难度大处理得到的数据不准确的问题，本发明提供了一种量子测控数据的处理方法及装置；本发明实现了量子测控数据的去噪，提高了去噪后得到的数据的准确度。

2、技术方案

为解决上述问题，本发明采用如下的技术方案。

一种量子测控数据处理方法，所述量子测控数据处理方法包括以下步骤：

获取量子测控数据的分布图；

根据所述分布图判断所述量子测控数据的分布符合的函数关系；

若判断所述量子测控数据的分布不符合函数关系，则对所述量子测控数据进行梯度降噪处理；

若判断所述量子测控数据的分布符合函数关系，则根据所述函数关系对应的函数模型对所述量子测控数据进行函数拟合降噪处理。

更进一步地，所述获取量子测控数据的分布图，具体包括：

获取所述量子测控数据的三维数据序列；

对所述三维数据序列进行绘图，获得分布图；其中：所述分布图包括三维图和/或二维图。

更进一步地，对所述量子测控数据进行梯度降噪处理，具体包括：

根据所述分布图确定所述量子测控数据的降噪方向；

在所述降噪方向上确定用于降噪的所述量子测控数据的基准数据序列；

获取所述量子测控数据与所述基准数据序列值的差值实现梯度降噪。

更进一步地，在根据所述分布图确定所述量子测控数据的降噪方向之前，具体还包括：

获取所述量子测控数据的三维数据序列；

判断所述三维数据序列的数据格式是否正确；

若判断所述三维数据序列的数据格式正确，则触发执行在根据所述分布图确定所述量子测控数据的降噪方向的步骤；

若判断所述三维数据序列的数据格式错误，则结束。