[发明专利]电子部件输送装置以及电子部件检查装置

说明书

本发明提供一种电子部件输送装置以及电子部件检查装置，能够通过简单的结构，使保持部相对于支承部正确地定位。本发明的电子部件输送装置具备：能够配置检查电子部件的检查部的区域；穿梭件，输送所述电子部件；以及手部，将所述电子部件从所述穿梭件向所述检查部输送，并从所述检查部输送至穿梭件，所述手部具有：保持部，设置有多个凹部且保持所述电子部件；以及支承部，设置有多个凸部且将保持部支承为能够移动，所述凹部和所述凸部在多个位置嵌合。

技术领域

本发明涉及电子部件输送装置以及电子部件检查装置。

背景技术

以往，已知有例如对IC设备等电子部件(部件)进行电气测试的测试装置(例如，参照专利文献1)。该专利文献1中记载的测试装置构成为在对IC设备进行测试时，通过测试装置用手部将IC设备输送至测定用插座并载置于测定用插座从而进行其测试。测试装置用手部具备：摇动体，追随测定用插座的倾斜并且为将IC设备按压至测定用插座而摇动；以及浮动体，通过悬挂于摇动体而配置为在X轴、Y轴、θ轴方向浮动。摇动体具有用于使摇动部本体摇动的膜状弹性构件，即例如橡胶膜。并且，通过供给空气使橡胶膜变形，通过该变形使浮动体成为在X轴、Y轴、θ轴方向能够浮动的状态。

专利文献1：日本特开2003-262660号公报

然而，在专利文献1中记载的测试装置中，测试装置用手部，例如在将IC设备推压至测定用插座时或打算输送IC设备而加速时，存在浮动体相对于摇动体发生位置偏移的可能性。假设产生该位置偏移时，IC设备和测定用插座并未可导电地接触，存在难以正确地进行测试的可能。

此外，也可以考虑构成为装备相机(摄像部)，并通过该相机检测位置偏移，并根据该检测结果通过压电元件(Piezoelectric Element)校正位置偏移。但是，若在校正后产生位置偏移，该结构也与专利文献1中记载的测试装置同样，IC设备和测定用插座并未可导电地接触，其结果为，存在难以正确地进行测试的可能。

发明内容

本发明以解决上述问题的至少一部分为目的，可以作为以下方式实现。

本发明的电子部件输送装置具备用于配置检查电子部件的检查部的区域，所述电子部件输送装置还具备：穿梭件，输送所述电子部件；以及手部，将所述电子部件从所述穿梭件向所述检查部输送，并从所述检查部输送至穿梭件，所述手部具有：保持部，设置有多个凹部且保持所述电子部件；以及支承部，设置有多个凸部且将保持部支承为能够移动，所述凹部和所述凸部在多个位置嵌合。

本发明的电子部件输送装置具备用于配置检查电子部件的检查部的区域，所述电子部件输送装置还具备：穿梭件，输送所述电子部件；以及手部，将所述电子部件从所述穿梭件向所述检查部输送，并从所述检查部输送至穿梭件，所述手部具有：保持部，设置有多个凸部且保持所述电子部件；以及支承部，设置有多个凹部且将保持部支承为能够移动，所述凹部和所述凸部在多个位置嵌合。

由此，将保持部对于支承部正确地定位的定位部能够由多个凸部和凹部简单地构成。然后，在由该定位部的定位状态下，手部在打算移动而加速时，即使在保持电子部件的保持部上有惯性力作用，也能够防止该保持部对于支承部的位置偏移。由此，例如在对电子部件进行电气检查时，能够使可执行其检查的检查部与电子部件可导电地接触，因此，能够正确地进行对电子部件的检查。

由此，在第一位置，保持部相对于支承部的定位状态被解除。通过解除该定位状态，例如在保持部将电子部件向检查电子部件的检查部推压时，即使检查部有若干倾斜，也能够使保持部的姿势与电子部件一同按照该检查部倾斜。由此，能够使电子部件和检查部可导电地接触，因此，能够正确地进行对电子部件的检查。

本发明的电子部件输送装置优选所述凸部设置于所述支承部，所述凹部设置于所述保持部。

由此，例如在使凸部与支承部分开构成的情况下，能够容易地将凸部配置于比移动的保持部更稳定的支承部。