[发明专利]一种预估器件可靠性的方法及装置在审
| 申请号： | 201811129534.9 | 申请日： | 2018-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN109406979A | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 刘勇强;史波;敖利波 | 申请（专利权）人： | 珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 519070*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 预估 待测试器件 集合 器件可靠性 测试器件 可靠性测试 功率器件 不良品 检测 | ||
1.一种预估器件可靠性的方法，其特征在于，包括：
获取待测试器件的测试温度集合，所述测试温度集合包括多个测试温度；
根据所述多个测试温度，对所述待测试器件增加电压，预估所述待测试器件的可靠性。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个测试温度，对所述待测试器件增加电压，预估所述待测试器件的可靠性，包括：
将所述测试温度集合的第一个测试温度确定为当前测试温度，调节所述待测试器件的温度至所述当前测试温度；并对调节温度后的所述待测试器件增加电压；
根据增加电压后的所述待测试器件的漏电流，确定所述待测试器件是否通过所述当前测试温度的可靠性预估测试；
若是，则将位于所述第一个测试温度之后的测试温度确定为当前测试温度，继续预估所述待测试器件的可靠性，直到所述待测试器件通过所述测试温度集合中的最后一个测试温度的可靠性预估测试或未通过当前测试温度的可靠性预估测试为止。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据增加电压后的所述待测试器件的漏电流，确定所述待测试器件是否通过所述当前测试温度的可靠性预估测试，包括：
根据增加电压后的所述待测试器件的漏电流，确定所述待测试器件的击穿电压；
若所述待测试器件的击穿电压不小于可靠器件的击穿电压，则确定所述待测试器件通过所述当前测试温度的可靠性预估测试；否则，确定所述待测试器件未通过所述当前测试温度的可靠性预估测试。
4.如权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述多个测试温度是根据所述待测试器件的结温确定的。
5.一种预估器件可靠性的装置，其特征在于，包括：
获取单元，用于获取待测试器件的测试温度集合，所述测试温度集合包括多个测试温度；
处理单元，用于根据所述多个测试温度，对所述待测试器件增加电压，预估所述待测试器件的可靠性。
6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述处理单元具体用于：
将所述测试温度集合的第一个测试温度确定为当前测试温度，调节所述待测试器件的温度至所述当前测试温度；并对调节温度后的所述待测试器件增加电压；
根据增加电压后的所述待测试器件的漏电流，确定所述待测试器件是否通过所述当前测试温度的可靠性预估测试；
若是，则将位于所述第一个测试温度之后的测试温度确定为当前测试温度，继续预估所述待测试器件的可靠性，直到所述待测试器件通过所述测试温度集合中的最后一个测试温度的可靠性预估测试或未通过当前测试温度的可靠性预估测试为止。
7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述处理单元具体用于：
根据增加电压后的所述待测试器件的漏电流，确定所述待测试器件的击穿电压；
若所述待测试器件的击穿电压不小于可靠器件的击穿电压，则确定所述待测试器件通过所述当前测试温度的可靠性预估测试；否则，确定所述待测试器件未通过所述当前测试温度的可靠性预估测试。
8.如权利要求5至7任一项所述的装置，其特征在于，所述多个测试温度是根据所述待测试器件的结温确定的。
9.一种计算设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储程序指令；
处理器，用于调用所述存储器中存储的程序指令，按照获得的程序执行权利要求1至4任一项所述的方法。
10.一种计算机可读非易失性存储介质，其特征在于，包括计算机可读指令，当计算机读取并执行所述计算机可读指令时，使得计算机执行如权利要求1至4任一项所述的方法。
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