[发明专利]芯片测试方法、装置、设备与系统

权利要求书

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：

测试设备，包括m组第一信号线和m*n组第二信号线；

m*n个芯片测试位，每个所述芯片测试位耦接于所述m组第一信号线中的一组和所述m*n组第二信号线中的一组。

2.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述第一信号线包括控制信号线和地址信号线，所述第二信号线包括数据信号线。

3.如权利要求1或2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试设备还包括n条片选信号线，每个所述芯片测试位耦接于所述n条片选信号线中的一条，且每个所述芯片测试位耦接的片选信号线与第一信号线不相同。

4.如权利要求3所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试设备设置为：

确定一或多个被测芯片对应的芯片测试位的信号线耦接关系；

根据所述信号线耦接关系使能所述芯片测试位耦接的片选信号线，同时对所述芯片测试位耦接的第一信号线输出测试指令，通过所述芯片测试位耦接的第二信号线写入数据或读取数据。

5.如权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试设备设置为：

按序使能所述n条片选信号线，并同时对所述m组第一信号线输出写指令和写地址，对当前片选信号线控制的m个芯片测试位耦接的m组第二信号线分别写入数据，以实现分n批对m*n个被测芯片进行写入测试，每一批同时测试m个所述被测芯片；或者，

按序对所述m组第一信号线输出写指令和写地址，并同时使能所述n条片选信号线，对当前第一信号线控制的n个芯片测试位耦接的n组第二信号线分别写入数据，以实现分m批对m*n个被测芯片进行写入测试，每一批同时测试n个所述被测芯片。

6.如权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试设备设置为：

按序使能所述n条片选信号线，并同时对所述m组第一信号线输出读指令和读地址，通过当前片选信号线控制的m个芯片测试位耦接的m组第二信号线分别读取数据，以实现分n批对m*n个被测芯片进行读取测试，每一批同时测试m个所述被测芯片；或者，

按序对所述m组第一信号线输出写指令和写地址，并同时使能所述n条片选信号线，通过当前第一信号线控制的n个芯片测试位耦接的n组第二信号线分别读取数据，以实现分m批对m*n个被测芯片进行读取测试，每一批同时测试n个所述被测芯片。

7.如权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试设备设置为：

使能所述n条片选信号线，并同时对所述m组第一信号线输出写指令和写地址，对所述m*n组第二信号线写入数据，以同时对m*n个被测芯片进行写入测试；或者，

使能所述n条片选信号线，并同时对所述m组第一信号线输出读指令和读地址，通过所述m*n组第二信号线分别读取数据，以同时对m*n个被测芯片进行读取测试。

8.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述m*n个芯片测试位按m*n矩阵形式排列。

9.一种芯片测试方法，用于测试m*n个芯片，所述m*n个芯片中的每一个耦接于测试设备m组第一信号线中的一组和m*n组第二信号线中的一组；其特征在于，包括：

确定被测芯片的信号线耦接关系；

根据所述信号线耦接关系同时对所述被测芯片耦接的第一信号线输出测试指令，通过所述被测芯片耦接的第二信号线写入数据或读取数据。

10.如权利要求9所述的芯片测试方法，其特征在于，所述第一信号线包括控制信号线和地址信号线，所述第二信号线包括数据信号线。

11.如权利要求9或10所述的芯片测试方法，其特征在于，每个所述芯片耦接所述测试设备n条片选信号线中的一条，且每个所述芯片耦接的所述片选信号线和所述第一信号线都不相同。