[发明专利]拍摄元件及焦点检测装置在审
申请号: | 201811157921.3 | 申请日: | 2013-03-29 |
公开(公告)号: | CN109509761A | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 村田宽信 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼康 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H04N5/369;H04N9/04;G02B3/00;G02B7/34;H04N5/232 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;王娟娟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微透镜 拍摄元件 色分量 像素 焦点检测装置 二维状排列 配置 | ||
1.一种拍摄元件,其特征在于,具有:
拍摄芯片,其设有像素,所述像素具有:微透镜、对透过了所述微透镜的光进行光电转换并生成电荷的多个光电转换部、以及将基于由所述光电转换部生成的电荷的信号输出的输出部;和
信号处理芯片,其层叠于所述拍摄芯片,并具有对从所述输出部输出的信号进行处理的信号处理部。
2.根据权利要求1所述的拍摄元件,其特征在于,
所述输出部输出基于由多个所述光电转换部生成的电荷的信号。
3.根据权利要求1或2所述的拍摄元件,其特征在于,
所述输出部由多个所述光电转换部共用。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的拍摄元件,其特征在于,
所述像素具有蓄积部,所述蓄积部蓄积由多个所述光电转换部生成的电荷。
5.根据权利要求4所述的拍摄元件,其特征在于,
所述蓄积部由多个所述光电转换部共用。
6.根据权利要求4或5所述的拍摄元件,其特征在于,
所述输出部将基于在所述蓄积部蓄积的电荷的信号输出到所述信号处理部。
7.根据权利要求1~6中任一项所述的拍摄元件,其特征在于,
所述拍摄芯片具有多个所述像素,
所述信号处理芯片按每个所述像素具有信号处理部。
8.根据权利要求1~7中任一项所述的拍摄元件,其特征在于,
还具有接合部,所述接合部设于所述拍摄芯片与所述信号处理芯片之间,并将所述输出部和所述信号处理部电连接。
9.根据权利要求8所述的拍摄元件,其特征在于,
所述接合部按每个所述像素电连接所述输出部和所述信号处理部。
10.根据权利要求1~9中任一项所述的拍摄元件,其特征在于,
从所述输出部输出的信号是模拟信号,
所述信号处理部是将所述模拟信号转换为数字信号的电路。
11.根据权利要求1~9中任一项所述的拍摄元件,其特征在于,
所述信号处理部是对从所述输出部输出的信号进行存储的存储器、或对从所述输出部输出的信号进行相关双采样的电路。
12.一种焦点检测装置,其特征在于,具有:
拍摄部,其具有使透过了光学系统的光透射过的微透镜、和对透过了所述微透镜的光进行光电转换并生成电荷的多个光电转换部;和
检测部,其基于由多个所述光电转换部生成的电荷所得到的信号,检测基于所述光学系统的像与所述拍摄部的偏移量。
13.根据权利要求12所述的焦点检测装置,其特征在于,
所述拍摄部具有使透过了所述微透镜的光中、第一波段的光透过的第一滤光片,
多个所述光电转换部对透过了所述第一滤光片的光进行光电转换。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的