[发明专利]拍摄元件及焦点检测装置在审
申请号: | 201811157921.3 | 申请日: | 2013-03-29 |
公开(公告)号: | CN109509761A | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 村田宽信 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼康 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H04N5/369;H04N9/04;G02B3/00;G02B7/34;H04N5/232 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;王娟娟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微透镜 拍摄元件 色分量 像素 焦点检测装置 二维状排列 配置 | ||
拍摄元件具有:呈二维状排列的多个微透镜;按每个微透镜设置的接受不同色分量的光的多个像素。设置在多个微透镜中的相邻的微透镜上的接受相同色分量的光的像素相邻地配置。
本发明申请是国际申请日为2013年03月29日、国际申请号为PCT/JP2013/059622、进入中国国家阶段的国家申请号为201380018192.2、发明名称为“拍摄元件、摄影方法及拍摄装置”的发明申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及拍摄元件、摄影方法及拍摄装置。
背景技术
公知一种拍摄装置,基于来自配置在拍摄元件的一部分上的多个焦点检测专用的像素的输出信号,进行光瞳分割型相位差方式的焦点检测(参照专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2007-282109号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在现有技术中,进行焦点检测时,被限于配置焦点检测专用的像素的位置。但是,若增加焦点检测专用的像素,则在配置焦点检测专用的像素的位置不能得到图像信号,画质降低。像这样,在现有技术中,基于拍摄元件的输出信号,除了图像信号的生成以外,还能够进行相位差方式的焦点检测,但存在由于在拍摄元件的一部分上设置有焦点检测专用的像素而产生的弊端。
用于解决课题的手段
根据本发明的第一方式,拍摄元件具有:呈二维状排列的多个微透镜;按每个所述微透镜设置的接受不同色分量的光的多个像素,设置在多个微透镜中的相邻的微透镜上的、接受相同色分量的光的像素被相邻地配置。
根据本发明的第二方式,在第一方式的拍摄元件中,优选来自像素的信号被用于焦点检测和图像数据生成这二者。
根据本发明的第三方式,拍摄元件具有:呈二维状排列的多个微透镜;按每个微透镜设置的接受不同色分量的光的多个像素,来自像素的信号被用于焦点检测和图像数据生成这二者。
根据本发明的第四方式,摄影方法具有:焦点检测步骤,使用来自拍摄元件中的不同的微透镜的接受相同色分量的光的像素的信号进行焦点检测,拍摄元件具有呈二维状排列的多个微透镜、和按每个微透镜设置的接受不同色分量的光的多个像素;摄影步骤,使用来自按每个微透镜设置的接受不同色分量的光的多个像素的信号,进行摄影图像的生成。
根据本发明的第五方式,在第四方式的摄影方法中,优选在拍摄元件中,设置在多个微透镜中的相邻的微透镜上的接受相同色分量的光的像素被相邻地配置。
根据本发明的第六方式,优选是,拍摄装置具有:拍摄元件,拍摄由通过了拍摄光学系统的被摄体光束产生的被摄体像;图像生成部,基于来自拍摄元件的输出信号而生成图像信号;以及焦点检测部,基于来自拍摄元件的输出信号,通过相位差检测方式检测拍摄光学系统的焦点调节状态,拍摄元件具有:像素组;以向像素组导入被摄体光束的方式配置的微透镜组,在像素组中,分别具有相互不同的第一、第二及第三光谱灵敏度的第一、第二及第三像素呈二维状排列,在微透镜组的各微透镜的背面上,以2行2列的方式配置有一个第一像素、一个第二像素和两个第三像素,这4个像素分别接受分别通过拍摄光学系统的射出瞳的4个瞳区域的4个光束,而且,第一、第二及第三像素是在分别具有大致相同的光谱灵敏度的像素彼此中以2行2列的方式相邻地配置,该以2行2列的方式相邻的4个像素分别配置在不同的4个微透镜的背面,并且被配置成相对于微透镜的位置分别不同,图像生成部基于来自第一、第二及第三像素的输出信号生成图像信号,焦点检测部基于来自第一、第二及第三像素中的至少任一方的输出信号检测焦点调节状态。
根据本发明的第七方式,在第六方式的拍摄装置中,优选第一像素具有红色的彩色滤光片,第二像素具有蓝色的彩色滤光片,第三像素具有绿色的彩色滤光片。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的