[发明专利]一种负离子精雕砖及其制备方法有效
申请号: | 201811171829.2 | 申请日: | 2018-10-09 |
公开(公告)号: | CN109049300B | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 谢岳荣;霍振辉;徐鹏飞;钟鹏;胡巧丽;徐鑫 | 申请(专利权)人: | 肇庆乐华陶瓷洁具有限公司 |
主分类号: | B28B11/00 | 分类号: | B28B11/00;B28B11/04;C03C8/20 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡枫 |
地址: | 526200 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 负离子 精雕砖 及其 制备 方法 | ||
1.一种负离子精雕砖的制备方法,其特征在于,包括:
(1)制备底釉:将钾长石37-55份,高岭土6-12份,烧高岭土5-7份,碳酸钡8-13份,石英4-8份,煅烧氧化锌1-3份,煅烧滑石3-6份,第一添加剂5-10份,水30-50份加入球磨机,球磨至预设细度后加入0.8-1.8份第二添加剂,混合均匀后得到底釉釉浆;所述第二添加剂中含有ThO2;
(2)分别制备坯体、面釉釉浆、喷墨墨水和精雕墨水;
(3)在烘干的坯体表面施底釉釉浆以形成底釉层;
(4)在所述底釉层上采用喷墨墨水以及精雕墨水印刷装饰图案;
(5)将步骤(4)得到的坯体放置预设时间以使装饰图案渗透形成浮雕层;
(6)在所述坯体表面施面釉釉浆以形成面釉层;
(7)将步骤(6)得到的坯体烘干;
(8)将步骤(7)得到的坯体烧成,得到负离子精雕砖成品;
其中,所述精雕墨水包括助渗剂,所述助渗剂选用碳酸钠、氢氧化钠、氢氧化钾中的一种或组合。
2.如权利要求1所述的负离子精雕砖的制备方法,其特征在于,所述第二添加剂的化学成分为:SiO2 15-19%、Al2O3 5-8%、Fe2O3 2.5-4.5%、TiO2 4-6%、CaO 0.8-1.5%、MgO0.2-0.6%、K2O 0.01-0.06%、Na2O 0.4-0.8%、ZnO 0.2-0.5%、CeO2 3-5%、ZrO2 14-17%、ThO2 25-29%、BaO 1.0-2.0%,余量为杂质。
3.如权利要求1或2所述的负离子精雕砖的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述第二添加剂平均粒径≤0.1μm。
4.如权利要求1-3任一项所述的负离子精雕砖的制备方法,其特征在于,所述负离子精雕砖释放负离子数为2000-3000个/cm2。
5.如权利要求1所述的负离子精雕砖的制备方法,其特征在于,所述精雕墨水由以下重量份的原料制成:增粘剂25-50份和助渗剂5-20份;其中,所述增粘剂选用甘油、羧甲基纤维素、淀粉中的一种或组合物。
6.如权利要求1所述的负离子精雕砖的制备方法,其特征在于,所述面釉釉浆由以下重量份的原料制备而成:钠长石35-48份,高岭土6-10份,烧高岭土3-7份,煅烧氧化锌1-3份,滑石3-6份,碳酸锶7-15份,氧化锆10-15份,第一添加剂10-25份;
其中,第一添加剂的化学成分为SiO2 45-49%、Al2O3 15-17%、Fe2O30.2-0.7%、TiO20.2-0.5%、CaO 12.9-16.8%、MgO 1-3%、K2O 1.5-3.5%、Na2O 0.5-0.8%、ZnO 12.7-15.9%,余量为杂质。
7.如权利要求3所述的负离子精雕砖的制备方法,其特征在于,所述面釉釉浆的化学成分为:SiO2 45.6-52.7%、Al2O3 12-17%、Fe2O3 0.1-0.2%、TiO20.2-0.5%、CaO 5-7.5%、MgO 0.3-0.7%、K2O 2.7-5.8%、Na2O 3.6-5.3%、ZnO 3-5%、SrO 7-9%、ZrO2 3-5%,余量为杂质;
所述面釉釉浆的细度为325目筛筛余0.4-0.7%,比重为1.88-1.93g/ml,流速为30-38秒/100mL釉浆。
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