[发明专利]一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法在审
| 申请号： | 201811172294.0 | 申请日： | 2018-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN109283105A | 公开（公告）日： | 2019-01-29 |
| 发明（设计）人： | 李星辉;吴豪 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N15/04 | 分类号： | G01N15/04 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 梁嘉琦 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电离 颗粒物 测量模块 沉降效率 质量测量装置 沉降 滤膜 测量 频率测量装置 质量检测装置 高压放电针 测量石英 电极参数 电离空气 电离区域 石英晶片 数据基础 数据计算 谐振频率 集尘极 检测 带电 附着 晶片 石英 采集 | ||
1.一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于，包括：用于电离空气的电离模块和用于测量沉降颗粒物的质量变化值的测量模块；
所述电离模块包括电离区域和设置于电离区域中的高压放电针；
所述测量模块包括带电的石英晶片和用于测量石英晶片的谐振频率的频率测量装置，所述石英晶片设置于电离区域下侧；还包括用于收集未被沉降颗粒物的滤膜和用于测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。
2.根据权利要求1所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括静电沉降流道，所述静电沉降流道形成所述的电离区域；所述静电沉降流道表面设置有微孔，所述高压放电针通过微孔插入至所述静电沉降流道内部。
3.根据权利要求2所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括壳体，所述测量模块设置于壳体上端，所述静电沉降流道下端与壳体相连接。
4.根据权利要求1所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：所述石英晶片的表面设置有导电金属片。
5.根据权利要求4所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括晶片托盘，所述石英晶片设置于晶片托盘中。
6.根据权利要求5所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：所述晶片托盘的上侧设有通孔，所述通孔的形状与所述石英晶片的上表面的导电金属片相同。
7.根据权利要求1所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括用于将空气吸入电离区域的空气泵，所述空气泵通过泵接口与滤膜相连接。
8.根据权利要求7所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括用于提供电压的供电探针，所述供电探针的导电金属片相连接。
9.一种应用权利要求1-8任一所述的一种颗粒物沉降质量测量装置的颗粒物沉降效率检测方法，其特征在于，包括：
设定电极参数，通过获取石英晶片的质量变化值和滤膜中的剩余颗粒物质量计算出沉降效率；
改变电极参数，重复测量得出对应的沉降效率；
根据电极参数和对应测量所得的沉降效率得出二者的对应关系。
10.根据权利要求9所述的一种颗粒物沉降效率检测方法，其特征在于：所述电极参数包括设置的高压放电针的数量和石英晶片的电压值。
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