[发明专利]一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法在审

专利信息
申请号: 201811172294.0 申请日: 2018-10-09
公开(公告)号: CN109283105A 公开(公告)日: 2019-01-29
发明(设计)人: 李星辉;吴豪 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院
主分类号: G01N15/04 分类号: G01N15/04
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 梁嘉琦
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电离 颗粒物 测量模块 沉降效率 质量测量装置 沉降 滤膜 测量 频率测量装置 质量检测装置 高压放电针 测量石英 电极参数 电离空气 电离区域 石英晶片 数据基础 数据计算 谐振频率 集尘极 检测 带电 附着 晶片 石英 采集
【说明书】:

发明公开了一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法。包括用于电离空气的电离模块和用于测量的测量模块。电离模块包括电离区域和高压放电针,测量模块包括带电的石英晶片和滤膜,还包括测量石英晶片谐振频率的频率测量装置和测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。电离模块与测量模块连接,使颗粒物电离后能附着于用作集尘极的石英晶片中,并利用采集的数据计算出沉降效率,为最佳电极参数的确定提供了数据基础。

技术领域

本发明涉及环保检测技术领域,特别是一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法。

背景技术

目前,人们对空气质量的关注逐渐提高,尤其是对PM2.5和PM10等颗粒物的含量十分关注,在测量颗粒物含量时,通常采用静电沉降方法对颗粒物的沉降效率进行测量。虽然目前的测量设备能够测量出在一定条件下的沉降效率,但当不同地方的空气中颗粒物含量不同时,目前的测量设备无法根据实际颗粒物含量而作出调整,从而容易出现沉降不完全或者沉降过度导致资源浪费。

发明内容

为解决上述问题,本发明的目的在于提供一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法,在实际应用能够检测不同电极参数条件下颗粒物的沉降质量用于沉降效率计算,为确定最佳电极参数积累数据基础。

本发明解决其问题所采用的技术方案是:一种颗粒物沉降质量测量装置,包括:用于电离空气的电离模块和用于测量沉降颗粒物的质量变化值的测量模块;

所述电离模块包括电离区域和设置于电离区域中的高压放电针;

所述测量模块包括带电的石英晶片和用于测量石英晶片的谐振频率的频率测量装置,所述石英晶片设置于电离区域下侧;还包括用于收集未被沉降颗粒物的滤膜和用于测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。

进一步,还包括静电沉降流道,所述静电沉降流道形成所述的电离区域;所述静电沉降流道表面设置有微孔,所述高压放电针通过微孔插入至所述静电沉降流道内部。

进一步,还包括壳体,所述测量模块设置于壳体上端,所述静电沉降流道下端与壳体相连接。

进一步,所述石英晶片的表面设置有导电金属片。

进一步,还包括晶片托盘,所述石英晶片设置于晶片托盘中。

进一步,所述晶片托盘的上侧设有通孔,所述通孔的形状与所述石英晶片的上表面的导电金属片相同。

进一步,还包括用于将空气吸入电离区域的空气泵,所述空气泵通过泵接口与滤膜相连接。

进一步,还包括用于提供电压的供电探针,所述供电探针与导电金属片相连接。

一种颗粒物沉降效率检测方法,包括:

设定电极参数,通过获取石英晶片的质量变化值和滤膜中的剩余颗粒物质量计算出沉降效率;

改变电极参数,重复测量得出对应的沉降效率;

根据电极参数和对应测量所得的沉降效率得出二者的对应关系。

进一步,所述电极参数包括设置的高压放电针的数量和石英晶片的电压值。

本发明的有益效果是:本发明采用一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法。设置电离模块对空气进行电离,并通过设置于电离模块相连接的测量模块检测出质量变化值,实现对沉降于其中的颗粒物质量的质量检测,并利用质量变化值计算出沉降效率,为验证最佳电极参数提供了数据基础,并且本装置分模块安装,有效提高了实际应用的便利性。

附图说明

下面结合附图和实例对本发明作进一步说明。

图1是本发明一种颗粒物沉降质量测量装置的装置分解示意图;

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