[发明专利]双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置

说明书

本发明涉及双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置，所述回转座支撑在基座上，并且与基座采用螺钉非接触连接；所述回转座为同轴两轴独立回转座，弧形内支臂首端与回转座的回转座内轴连接，回转座内轴连接内侧回转体，弧形外支臂首端与回转座的回转座外轴连接，回转座外轴连接外侧回转体；弧形内支臂和弧形外支臂的末端分别对应连接天线机构；目标支架设置在基座内侧正前方，并与弧形内支臂和弧形外支臂的末端在同一竖直平面内位置相对应。本发明两个支臂之间的角度控制方便，有利于减小装置整体的体积，并可实现对待测材料进行不同入射角度的反射率测量。

技术领域

本发明涉及吸波材料的反射率测量技术领域，尤其涉及一种双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置。

背景技术

弓形法测量系统由于组成结构简单，测量过程便捷，可实现高温材料的反射率测量，而成为一种常用的材料反射率测量系统。

弓形法测量系统的核心组件是弓形架，其可用于固定天线，并为天线的移动提供轨道，以满足材料不同入射角测试的使用需求。为了尽可能避免弓形架自身的散射对反射率测量造成影响，现有弓形架一般采用一种整体半圆弧形框架结构。由于需要为天线提供移动轨道来满足不同双站角的测试，使得现有弓形架的整体结构体积偏大，并且现有弓形架与目标支架设置在同一水平面上，这都会加大弓形架的自身散射，从而产生测量误差，对反射率的测量精度造成极大影响。

因此，针对以上不足，需要提供一种能够尽量避免机构自身散射对测量结果造成影响的反射率测量装置，从而提高测量结果的精度。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有材料反射率测量装置由于自身组件的散射而影响测量结果精度的缺陷，提供一种双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置，包括：弧形内支臂、弧形外支臂、回转座、天线机构、目标支架和基座；

所述回转座支撑在基座上，并且与基座采用螺钉非接触连接；所述回转座为同轴两轴独立回转座，弧形内支臂首端与回转座的回转座内轴连接，回转座内轴连接内侧回转体，弧形外支臂首端与回转座的回转座外轴连接，回转座外轴连接外侧回转体；

所述弧形内支臂和弧形外支臂的弧度方向朝向回转座内侧，并且弧形内支臂和弧形外支臂由首端至末端为截面逐渐变小的等刚度变截面设计；弧形内支臂和弧形外支臂的末端分别对应连接天线机构；目标支架设置在基座内侧正前方，并与弧形内支臂和弧形外支臂的末端在同一竖直平面内位置相对应。

在根据本发明所述的双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置中，所述弧形内支臂和弧形外支臂均为四分之一圆结构。

在根据本发明所述的双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置中，弧形内支臂和弧形外支臂的半径相同，半径为2.5至3.5米。

在根据本发明所述的双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置中，以天顶位置时为0°，弧形内支臂和弧形外支臂的转动范围均为±60°。

在根据本发明所述的双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置中，弧形内支臂和弧形外支臂的回转半径均为2.5米。

在根据本发明所述的双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置中，所述回转座回转中心与基座基准面之间的高度差可通过所述螺钉调节，回转座回转中心与基座基准面之间最大距离为800mm。

在根据本发明所述的双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置中，所述回转座包括内支臂连接机构和外支臂连接机构，内支臂连接机构和外支臂连接机构的结构相同，外支臂连接机构包括蜗轮、轴承、码盘、外侧回转体和驱动装置，

所述驱动装置包括蜗杆、减速器和电机，电机的输出轴依次通过减速器和蜗杆带动蜗轮旋转，蜗轮通过码盘带动支撑在轴承上的外侧回转体旋转，外侧回转体带动回转座外轴旋转。