[发明专利]一种机械力插层剥离制备无机二维纳米材料的方法在审

专利信息
申请号: 201811178618.1 申请日: 2018-10-10
公开(公告)号: CN109250693A 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 刘永生 申请(专利权)人: 深圳烯材科技有限公司
主分类号: C01B21/064 分类号: C01B21/064;C01B11/00;C01B11/06;C01B19/00;C01B21/06;C01B25/02;C01B32/19;C01B32/949;C01B33/20;C01B33/22;C01B33/26;C01F17/00;C01G9/00
代理公司: 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 代理人: 张志伟
地址: 518122 广东省深圳市坪山区坑梓街道锦绣中*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 插层 剥离 二维材料 机械力 制备 三维 混合金属卤化物 层状晶体材料 二维纳米材料 高能球磨处理 片状纳米材料 无机晶体材料 无机纳米材料 制备技术领域 生产周期 无机非金属 层状材料 二维片状 混合粉体 晶体材料 晶体结构 无机层状 制备工艺 可重复 普适性 提纯 产率 二维 球磨 去除
【权利要求书】:

1.一种机械力插层剥离制备无机二维纳米材料的方法,其特征在于,以天然或人工合成的三维层状晶体材料为原料,以混合金属卤化物作为插层剥离介质,混合均匀后加入高能球磨机中进行固相高能球磨处理;球磨处理后的混合粉体经水洗去除插层剥离介质后,将三维层状晶体材料制成对应的无机二维纳米材料浆料,干燥后获得相应的无机二维纳米粉体材料。

2.按照权利要求1所述的机械力插层剥离制备无机二维纳米材料的方法,其特征在于,用于剥离的三维层状晶体材料包括但是不限于以下之一:石墨、六方氮化硼、黑磷、过渡金属二硫族化合物、过渡金属三硫族化合物、金属磷三硫族化合物、过渡金属卤氧化物、金属卤化物、层状氧化物、层状氢氧化物、层状硅酸盐、金属碳化物和氮化物、其他层状半导体。

3.按照权利要求2所述的机械力插层剥离制备无机二维纳米材料的方法,其特征在于,过渡金属二硫族化合物为MoS2、WS2、WSe2、NbSe2、ZrS2、ZrSe2,NbS2、TiS2、TaS2、NiSe2或NbSe2;过渡金属三硫族化合物为NbX3、TiX3或TaX3,X=S、Se、Te;金属磷三硫族化合物为MnPS3、CdPS3、NiPS3或ZnPS3;过渡金属卤氧化物为VOCl、CdOCl、FeOCl、NbO2F或WO2Cl2;金属卤化物为PbI2、BiI3、MoCl2或PbCl4;层状氧化物为Bi2Sr2CaCu2Ox、Sr2Nb3O10、TiO2、Ti3O7、MnO2、MoO3、WO3、V2O5、LaNbO7或Bi4Ti3O12;层状氢氧化物为Ni(OH)2或Eu(OH)2;层状硅酸盐为[(Mg3)(Si2O5)2(OH)2]、[(Al2)(Si3Al)O10(OH)2]K、[(Al2)(Si2Al2)O10(OH)2]Ca、[(Mg6)(Si6Al2)O20(OH)4]、[(MgFe)3(Si3Al)O10(OH)2]K或[Mg11(Si6Al2)O20F4];金属碳化物和氮化物为WC2或C3N4;其他层状半导体为GaSe、GaTe、InSe、GeSe、In2Se3或Bi2Se3

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