[发明专利]基于MEMS工艺的高Q值三维螺旋结构电感及其制作方法在审
申请号: | 201811186644.9 | 申请日: | 2018-10-12 |
公开(公告)号: | CN109599489A | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 徐玲;周盛锐;卢基存;杨颖琳;史传进 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L49/02 | 分类号: | H01L49/02 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;陆尤 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 螺旋线圈 三维螺旋结构 基层绝缘层 电感 垂直集成 隔离电感 集成电感 硅基体 绝缘层 微电子技术领域 垂直螺旋 电气连接 多层线圈 封装工艺 机械稳定 寄生电容 绝缘材料 微型集成 柱状金属 硅衬底 支撑物 衬底 杂散 制作 三维 兼容 改良 支撑 | ||
本发明属于微电子技术领域,具体为基于MEMS工艺的高Q值三维螺旋结构集成电感及其制作方法。本发明的三维螺旋结构集成电感包括硅基体、基层绝缘层、螺旋线圈、螺旋线圈间支撑物;所述基层绝缘层用于隔离电感螺旋线圈与硅基体,螺旋线圈通过线圈间绝缘层中的柱状金属形成电气连接。本发明采用改良的三维垂直集成方案,通过基层绝缘层隔离电感和硅衬底,降低衬底损耗,并通过绝缘材料支撑垂直螺旋结构,在较小的面积内向上垂直集成多层线圈,最终形成损耗低、杂散寄生电容小、具有高Q值、同时与封装工艺兼容、机械稳定的微型集成电感。
技术领域
本发明属于微电子技术领域,具体涉及一种高Q值三维螺旋结构电感及其制作方法。
背景技术
近30年来,随着电子通信技术的发展、智能消费电子等手持设备的功能不断增加,电感作为关键元件之一,被大量使用在集成电路中,起到匹配网络、滤波、储存能量、扼流等作用。传统分立式电感由于其封装成本、尺寸及性能条件的制约,已经不再满足日益增长的需求,具有低能耗、小尺寸、低噪声、高频段的电感需求量持续增加。
集成电感器通常采用金属螺旋形式实现,通过选择其特征尺寸、形状结构及实现方式,可以实现对集成电感器的不同设计与改善提高。此外由于标准的CMOS射频电路通常是在低电阻率的衬底上形成的,平面螺旋电感通常会因为严重的衬底和欧姆损耗而表现出较低的Q值,随着IC工作频率的增加,衬底损耗会越来越严重,导致平面电感器的性能降低。为了减少衬底损耗与欧姆损耗,MEMS工艺领域在这方面作出了许多技术的努力,通过改变衬底材料、电感结构以及填充材料等方法,不断提高电感性能。
对现有文献资料进行分析发现,已有的提高集成电感性能的方法包括:(1)改良衬底以降低寄生效应和衬底损耗,包括利用HF电化学阳极氧化在P+硅衬底中局部形成多孔硅,采用多孔硅衬底制作平面电感器[1],或使用柔性塑料衬底和低K电介质膜改良衬底,有效降低分流电导和电容及电感器串联电阻的涡流部分,以实现更高的Q值。(2)优化集成电感结构,包括悬浮梁支撑二维螺旋电感[2,3],即采用具有十字形夹层膜支撑的坚固的微机械螺旋电感器,增强了结构刚性和信号稳定性,并消除工作温度变化引起的电感变化,同时悬浮梁结构去除其下面的硅衬底以抑制衬底损耗,提高Q值;设计三维螺旋管电感器[4],通过在衬底和导体线圈之间引入气隙以减小衬底介电常数的影响,所制成的电感具有更少的基板依赖性磁性、更少的杂散电容和更高的Q因子;嵌入式悬浮螺管结构电感[5],通过紧凑布局,在保证电感性能的同时节省占用面积50%。
然而上述各类方法分别存在工艺复杂度、IC兼容集成不方便、后续封装困难、机械稳定性不足、工艺成本高难度大等各式问题,难全齐美。
[1] Chong K, Xie Y, Yu K, Huang D and Chang M. High-performanceinductors integrated on porous silicon. IEEE Electron Device Letters 2005;26:93–95.
[2] Lin J, Chen C and Cheng Y. A robust high-Q micromachined RF inductorfor RFIC applications. IEEE Transactions on Electron Devices 2005; 52:1489-1496.
[3] Yoon J, Choi Y, Kim B, Eo Y, and Yoon E. CMOS-compatible surface-micromachined suspended-spiral inductors for multi-GHz silicon RF ICs. IEEEElectron Device Letters 2002; 23:591-593.
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