[发明专利]存储器模块、操作其的方法和存储器模块的测试系统

说明书

存储器模块包括半导体存储器设备、电源管理集成电路(PMIC)和控制设备。安装在电路板上的半导体存储器设备基于电源电压操作。安装在电路板上的PMIC生成电源电压，向半导体存储器设备提供电源电压，并存储与在测试模式下半导体存储器设备正常操作时的电源电压的最小电平相关联的修调控制码。在测试模式期间，PMIC调整电源电压的电平，使用调整的电源电压测试半导体存储器设备，并基于测试结果存储调整控制码。控制设备基于从外部设备接收的第一控制信号来控制PMIC。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年10月13日向韩国知识产权局(KIPO)提交的韩国专利申请第10-2017-0133117号的优先权，其公开内容通过引用整体并入本文。

技术领域

本发明构思的示例性实施例涉及存储器设备，并且更具体地，涉及存储器模块、操作存储器模块的方法以及存储器模块的测试系统。

背景技术

半导体存储器可以是使用诸如硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)等半导体实现的存储器设备。半导体存储器设备通常分为易失性存储器设备和非易失性存储器设备。

易失性存储器设备指的是当电源关闭时存储的数据丢失的存储器设备。另一方面，非易失性存储器设备指的是当电源关闭时保持存储的数据的存储器设备。由于作为一种易失性存储器设备的动态随机存取存储器(DRAM)具有高访问速度，因此DRAM被广泛用作计算系统的工作存储器、缓冲存储器、主存储器等。因为DRAM存储器单元通常包括电容器和晶体管，所以难以减小其单元尺寸。因此，可能难以在有限的区域内实现高容量DRAM。对于高容量，可以以存储器模块的形式提供多个DRAM。

发明内容

根据本发明构思的示例性实施例，一种存储器模块，包括：多个半导体存储器设备、电源管理集成电路(PMIC)和控制设备。所述多个半导体存储器设备安装在电路板上，并基于电源电压操作。安装在电路板上的PMIC使用输入电压生成电源电压，向所述多个半导体存储器设备提供电源电压，并且存储与第一目标电平相关联的修调控制码，所述第一目标电平与当所述多个半导体存储器设备在测试模式下正常操作时的电源电压的最小电平相对应。在测试模式期间，PMIC调整电源电压的电平，使用调整的电源电压测试半导体存储器设备，并且基于测试的结果存储修调控制码。所述控制设备响应于从外部设备接收的第一控制信号来控制PMIC。

根据本发明构思的示例性实施例，在一种操作存储器模块的方法中，所述存储器模块包括安装在电路板上的多个半导体存储器设备和安装在所述电路板上的电源管理集成电路(PMIC)，所述电源管理集成电路向所述多个半导体存储器设备提供电源电压，存储器模块被指示进入测试模式，与电源电压的电平相关联的修调控制码被重置，在电源电压的第一电平测试所述多个半导体存储器设备，以及基于利用调整的电源电压测试所述多个半导体存储器设备的结果，调整电源电压的电平。

根据本发明构思的示例性实施例，一种存储器模块的测试系统，包括：存储器模块和自动测试装备(ATE)。所述存储器模块包括安装在电路板上的多个半导体存储器设备和安装在电路板上的电源管理集成电路(PMIC)，其中PMIC被配置为向所述多个半导体存储器设备提供电源电压。所述ATE测试所述多个半导体存储器设备。所述存储器模块还包括控制设备，以响应于从所述ATE接收的控制信号来控制所述PMIC。PMIC使用输入电压生成电源电压，向所述多个半导体存储器设备提供电源电压，通过在测试模式下调整电源电压的电平来测试所述多个半导体存储器设备，并且存储与在所述多个半导体存储器设备正常操作时电源电压的最小电平相关联的修调控制码。

附图说明

通过参考附图详细描述本发明构思的示例性实施例，将更清楚地理解本发明构思的上述和其他特征。

图1是示出了根据本发明构思的示例性实施例的存储器系统的框图。

图2是示出了根据本发明构思的示例性实施例的图1的存储器模块的框图。