[发明专利]用于检测纠错模块的验证方法和装置

权利要求书

1.一种用于检测纠错模块的验证方法，其特征在于，包括以下步骤：

基于所述检测纠错模块生成第一验证数据的第一校验码字；

对第一校验码字中的若干比特位进行修改，得到第二校验码字；

基于所述检测纠错模块对第一验证数据和第二校验码字进行校验，在确定所述校验结果为正确时，所述检测纠错模块没有通过验证。

2.根据权利要求1所述验证方法，其特征在于，还包括以下步骤：

对第一验证数据中的N位比特位进行修改，得到第二验证数据，其中，N为自然数、且N小于等于所述检测纠错模块所能检测纠错的最大长度；

基于所述检测纠错模块对第二验证数据和第一校验码字进行校验，在确定所述校验结果为正确时，所述检测纠错模块没有通过验证。

3.根据权利要求1或2所述的验证方法，其特征在于，

所述对第一校验码字中的若干比特位进行修改，包括：对第一校验码字中的若干比特位进行取反操作；

所述对第一验证数据中的N位比特位进行修改，包括：对第一验证数据中的N位比特位进行取反操作。

4.根据权利要求3所述的验证方法，其特征在于：

所述检测纠错模块运行的是Pairty算法、且N等于1，或者所述检测纠错模块运行的是ECC算法、且N为小于等于2的自然数。

5.一种用于检测纠错模块的验证装置，其特征在于，包括以下模块：

初始化模块，用于基于所述检测纠错模块生成第一验证数据的第一校验码字；

第一修改模块，用于对第一校验码字中的若干比特位进行修改，得到第二校验码字；

第一验证模块，用于基于所述检测纠错模块对第一验证数据和第二校验码字进行校验，在确定所述校验结果为正确时，所述检测纠错模块没有通过验证。

6.根据权利要求5所述验证装置，其特征在于，还包括以下模块：

第二修改模块，用于对第一验证数据中的N位比特位进行修改，得到第二验证数据，其中，N为自然数、且N小于等于所述检测纠错模块所能检测纠错的最大长度；

第二验证模块，用于基于所述检测纠错模块对第二验证数据和第一校验码字进行校验，在确定所述校验结果为正确时，所述检测纠错模块没有通过验证。

7.根据权利要求5或6所述的验证装置，其特征在于，

所述第一修改模块，还用于：对第一校验码字中的若干比特位进行取反操作；

所述第二修改模块，还用于：对第一验证数据中的N位比特位进行取反操作。

8.根据权利要求7所述的验证装置，其特征在于：

所述检测纠错模块运行的是Pairty算法、且N等于1，或者所述检测纠错模块运行的是ECC算法、且N为小于等于2的自然数。

9.一种用于检测纠错模块的验证装置，其特征在于，包括：

控制模块、芯片逻辑模块、第一选择器、第二选择器、第三选择器、锁存器、校验字计算模块、存储器和检测纠错模块；

第二选择器接收控制模块和芯片逻辑模块的输入数据，并将其中一个输入数据发送至校验字计算模块和存储器；

第一选择器接收控制模块和存储器的输入数据，并将其中一个输入数据发送至锁存器；

第三选择器接收锁存器和校验字计算模块的输入，并将其中一个输入数据发送至存储器；

检测纠错模块接收存储器的输出数据，并对该输出数据进行检测纠错运算。

10.根据权利要求9所述的验证装置，其特征在于：

校验字计算模块和监测纠错模块为同一模块。