[发明专利]用于检测纠错模块的验证方法和装置

说明书

本发明提供了一种用于检测纠错模块的验证方法和装置，所述验证方法包括以下步骤：基于所述检测纠错模块生成第一验证数据的第一校验码字；对第一校验码字中的若干比特位进行修改，得到第二校验码字；基于所述检测纠错模块对第一验证数据和第二校验码字进行校验，在确定所述校验结果为正确时，所述检测纠错模块没有通过验证。从而能够对检测纠错模块进行验证。

技术领域

本发明涉及芯片设计技术领域，尤其涉及一种用于检测纠错模块的验证方法和装置。

背景技术

在芯片中，通常会设置有存储器，如果芯片存在故障或者存在设计错误，则在该芯片的正常运行中，该存储器中的数据可能会发生改变，通常在芯片中都设置有检测纠错模块。该检测纠错模块的工作原理通常为：在向存储器写入数据时，检测纠错模块会计算写入数据的校验码字，与写入数据一同写进存储器的对应空间；在从存储器的读数据时，会从存储器中读取数据以及对应的校验码字(写入数据时生成的)，之后检测纠错模块会计算所读取的数据的校验码字，如果计算得到的校验码字与所读取的校验码字一致时，则存储器未发生错误；反之，说明该数据出现存储错误，需要进行纠错操作。可以理解的是，在芯片验证过程中，也需要对检测纠错模块进行验证。

因此，如何设置一种对检测纠错模块进行验证的方法和装置，就成为一个亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于检测纠错模块的验证方法和装置。

为了实现上述发明目的之一，本发明一实施方式提供了一种用于检测纠错模块的验证方法，包括以下步骤：基于所述检测纠错模块生成第一验证数据的第一校验码字；对第一校验码字中的若干比特位进行修改，得到第二校验码字；基于所述检测纠错模块对第一验证数据和第二校验码字进行校验，在确定所述校验结果为正确时，所述检测纠错模块没有通过验证。

作为本发明一实施方式的进一步改进，还包括以下步骤：对第一验证数据中的N位比特位进行修改，得到第二验证数据，其中，N为自然数、且N小于等于所述检测纠错模块所能检测纠错的最大长度；基于所述检测纠错模块对第二验证数据和第一校验码字进行校验，在确定所述校验结果为正确时，所述检测纠错模块没有通过验证。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述对第一校验码字中的若干比特位进行修改，包括：对第一校验码字中的若干比特位进行取反操作；所述对第一验证数据中的N位比特位进行修改，包括：对第一验证数据中的N位比特位进行取反操作。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述检测纠错模块运行的是Pairty算法、且N等于1，或者所述检测纠错模块运行的是ECC算法、且N为小于等于2的自然数。

本发明实施例提供了一种用于检测纠错模块的验证装置，包括以下模块：初始化模块，用于基于所述检测纠错模块生成第一验证数据的第一校验码字；第一修改模块，用于对第一校验码字中的若干比特位进行修改，得到第二校验码字；第一验证模块，用于基于所述检测纠错模块对第一验证数据和第二校验码字进行校验，在确定所述校验结果为正确时，所述检测纠错模块没有通过验证。

作为本发明一实施方式的进一步改进，还包括以下模块：第二修改模块，用于对第一验证数据中的N位比特位进行修改，得到第二验证数据，其中，N为自然数、且N小于等于所述检测纠错模块所能检测纠错的最大长度；第二验证模块，用于基于所述检测纠错模块对第二验证数据和第一校验码字进行校验，在确定所述校验结果为正确时，所述检测纠错模块没有通过验证。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述第一修改模块，还用于：对第一校验码字中的若干比特位进行取反操作；所述第二修改模块，还用于：对第一验证数据中的N位比特位进行取反操作。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述检测纠错模块运行的是Pairty算法、且N等于1，或者所述检测纠错模块运行的是ECC算法、且N为小于等于2的自然数。