[发明专利]光学测量装置及光学测量方法有效
申请号: | 201811194957.9 | 申请日: | 2018-10-15 |
公开(公告)号: | CN110058249B | 公开(公告)日: | 2023-09-15 |
发明(设计)人: | 梶井阳介;的场贤一;近藤智则 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01B11/02 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨文娟;臧建明 |
地址: | 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种光学测量装置,其特征在于,包括:
光源,发出光;
光接收部,检测由对象物反射的反射光的光接收量;
测量部,根据所述反射光的光接收量,测量从所述光学测量装置至所述对象物为止的距离;以及
检测部,检测所述反射光的每单位时间的光接收量小于阀值的所述对象物的一部分,
当所述检测部检测到所述对象物的一部分时,所述测量部不测量所述距离。
2.根据权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,
所述光包含多个波长成分,
所述光学测量装置还包括光学系统,所述光学系统使所述光产生沿着光轴方向的色差,并将产生了色差的光照射至所述对象物上,且将所述反射光聚光,
所述光接收部能够针对每个所述波长成分检测光接收量。
3.根据权利要求2所述的光学测量装置,其特征在于,
所述测量部根据所述反射光的每个所述波长成分的光接收量分布中的峰值的光接收量来测量所述距离。
4.根据权利要求2所述的光学测量装置,其特征在于,
还包括设定部,所述设定部在所述检测部未检测所述对象物的一部分时,根据所述反射光的每单位时间的光接收量来设定所述阀值。
5.根据权利要求4所述的光学测量装置,其特征在于,
当所述检测部未检测到所述对象物的一部分时,所述设定部将所述反射光的每个所述波长成分的光接收量分布中的峰值的波长成分的每单位时间的光接收量的1/10设定为所述阀值,
当所述反射光的每个所述波长成分的光接收量分布中的峰值的波长成分的每单位时间的光接收量小于所述阀值时,所述检测部检测所述对象物的一部分。
6.一种光学测量方法,其是光学测量装置所使用的光学测量方法,其特征在于,包括:
光源发出光的步骤;
光接收部检测由对象物反射的反射光的光接收量的步骤;
测量部根据所述反射光的光接收量,测量从所述光学测量装置至所述对象物为止的距离的测量步骤;以及
检测部检测所述反射光的每单位时间的光接收量小于阀值的所述对象物的一部分的步骤,
所述测量步骤包括在检测所述对象物的一部分的步骤中,当所述检测部检测到所述对象物的一部分时,所述测量部不测量所述距离。
7.根据权利要求6所述的光学测量方法,其特征在于,
所述光包含多个波长成分,
所述光学测量方法还包括光学系统使所述光产生沿着光轴方向的色差,并将产生了色差的光照射至对象物上,且所述光学系统将所述反射光聚光的步骤,
所述光接收部能够针对每个所述波长成分检测光接收量。
8.根据权利要求7所述的光学测量方法,其特征在于,
所述测量步骤包括所述测量部根据所述反射光的每个所述波长成分的光接收量分布中的峰值的光接收量来测量所述距离。
9.根据权利要求7所述的光学测量方法,其特征在于,
还包括在检测所述对象物的一部分的步骤中,当所述检测部未检测到所述对象物的一部分时,设定部根据所述反射光的每单位时间的光接收量来设定所述阀值的设定步骤。
10.根据权利要求9所述的光学测量方法,其特征在于,
所述设定步骤包括:在检测所述对象物的一部分的步骤中,当所述检测部未检测到所述对象物的一部分时,所述设定部将所述反射光的每个所述波长成分的光接收量分布中的峰值的波长成分的每单位时间的光接收量的1/10设定为所述阀值,
检测所述对象物的一部分的步骤包括当所述反射光的每个所述波长成分的光接收量分布中的峰值的波长成分的每单位时间的光接收量小于所述阀值时,所述检测部检测所述对象物的一部分。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧姆龙株式会社,未经欧姆龙株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811194957.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:激光雷达装置
- 下一篇:一种激光测距雷达抗串扰装置