[发明专利]分析系统以及光学元件的更换时期判定方法在审
申请号: | 201811202954.5 | 申请日: | 2018-10-16 |
公开(公告)号: | CN109682755A | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 图子纯平 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01J3/02;G01M11/02 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 肖华 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学元件 分光光度计 分析系统 光检测器 管理信息 判定 存储装置 管理终端 光源部 光量 读出存储 光量信息 信息存储 光引导 判定部 检测 读出 光源 | ||
1.一种分析系统,其特征在于,具备:
光源,其射出在分析中使用的光;
光学元件,其使从所述光源射出的光反射或者透射;
光检测器,其检测由所述光学元件反射或者透射后的光;
更换时期判定部,其基于在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量,判定所述光学元件的更换时期。
2.根据权利要求1所述的分析系统,其特征在于,
在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量低于阈值的情况下,所述更换时期判定部判定为是所述光学元件的更换时期。
3.根据权利要求1所述的分析系统,其特征在于,
还具备光量预测部,该光量预测部在更换了所述光源时,预测在该光源的下一个更换时期中由所述光检测器检测出的光的光量,
所述更换时期判定部在由所述光量预测部预测的光量低于阈值的情况下,判定为是所述光学元件的更换时期。
4.根据权利要求2所述的分析系统,其特征在于,
还具备受理所述阈值的设定的设定受理部。
5.根据权利要求1所述的分析系统,其特征在于,还具备:
存储部,其存储使用所述光源的累积时间;以及
操作受理部,其在更换了所述光源时,受理在所述存储部中存储的使用该光源的累积时间的重置操作,
所述更换时期判定部基于在由所述操作受理部受理了所述重置操作时由所述光检测器检测出的光的光量,来判定所述光学元件的更换时期。
6.一种光学元件的更换时期判定方法,是分析系统中的所述光学元件的更换时期判定方法,所述分析系统具备:光源,其射出在分析中使用的光;光学元件,其使从所述光源射出的光反射或者透射;以及光检测器,其检测由所述光学元件反射或者透射后的光,
所述光学元件的更换时期判定方法的特征在于,
包括更换时期判定步骤,基于在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量,来判定所述光学元件的更换时期。
7.根据权利要求6所述的光学元件的更换时期判定方法,其特征在于,
在所述更换时期判定步骤中,当在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量低于阈值的情况下,判定为是所述光学元件的更换时期。
8.根据权利要求6所述的光学元件的更换时期判定方法,其特征在于,
还包括光量预测步骤,在更换了所述光源时,预测在该光源的下一个更换时期中由所述光检测器检测出的光的光量,
在所述更换时期判定步骤中,在通过所述光量预测步骤预测的光量低于阈值的情况下,判定为是所述光学元件的更换时期。
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