[发明专利]分析系统以及光学元件的更换时期判定方法

说明书

本发明提供一种能够适当地保持由光检测器检测的光的光量的分析系统以及该分析系统中的光学元件的更换时期判定方法。分析系统(10)具备多个分光光度计(1)、存储装置(11)和管理终端(12)。在分光光度计(1)中设置有光源部(2)、光检测器和用于将来自光源部的光引导到光检测器的光学元件。在存储装置(11)中，当在各分光光度计中更换了光源的情况下，将与刚更换之后由光检测器(6)检测的光的光量相关的信息存储为管理信息(110)。管理终端(12)的更换时期判定部(125)读出存储装置的管理信息(110)，基于所读出的管理信息的光量信息(113)的值，判定光学元件的更换时期。因此，能够正确地判定分光光度计中的光学元件的更换时期。

技术领域

本发明涉及一种具备射出光的光源以及使来自光源的光反射或者透射的光学元件的分析系统以及该分析系统中的光学元件的更换时期判定方法。

背景技术

以往以来，利用将光照射到试样并测定来自试样的光而进行分析的分析装置。另外，还利用将多个分析装置连接到网络、并经由网络由管理终端管理这些分析装置的分析系统。

分析装置具备光源和光检测器。在分析装置中，向试样照射来自光源的光，由光检测器检测来自试样的透射光或者反射光。然后，基于来自光检测器的检测信号进行分析(例如，参照下述专利文献1)。

在这种分析装置中，随着使用时间的经过，被用作光源的灯产生消耗，由光检测器检测的光的光量降低。由光检测器检测的光的光量的降低对分析造成不良影响。因此，在分析装置中，需要定期地将光源更换成新品。

在下述专利文献1所记载的分析装置中，对光源的亮灯时间进行累计，在亮灯时间为一定以上的情况下，进行通知应该更换光源的控制。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2001－317997号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

在上述以往的分析装置中，即使在更换了光源的情况下，也有时产生由光检测器检测的光的光量达不到规定量这样的不佳状况。具体来说，在分析装置中，设置有使光反射或者透射的各种光学元件。并且，伴随着分析装置的使用，在这些光学元件处积存污渍或者产生由紫外线导致的劣化。而且，如果使用劣化了的光学元件将来自光源的光引导到光检测器，则即使从光源照射了适当的量的光，在由光检测器检测光时，光的光量也降低。

这样，在以往的分析装置中，即使在更换了光源的情况下，也有时产生由光检测器检测的光的光量达不到所需的量、分析的精度降低这样的不佳状况。

本发明是鉴于上述实际情况而完成的，其目的在于，提供一种能够适当地保持由光检测器检测的光的光量的分析系统以及该分析系统中的光学元件的更换时期判定方法。

解决技术问题的技术手段

(1)本发明的分析系统具备光源、光学元件、光检测器和更换时期判定部。所述光源射出在分析中使用的光。所述光学元件使从所述光源射出的光反射或者透射。所述光检测器检测由所述光学元件反射或者透射后的光。所述更换时期判定部基于在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量，来判定所述光学元件的更换时期。

在分析系统中，如果光学元件发生劣化，则由光检测器检测的光的光量降低。另外，在分析系统中，如果光源的使用时间变长，则光源产生消耗，从光源射出的光的光量降低。然后，由光检测器检测的光的光量降低。因此，在持续使用光源的状态下，在由光检测器检测的光的光量降低的情况下，作为光量降低的原因，可列举光源的劣化以及光学元件的劣化这两者。因此，在持续使用光源的状态下，着眼于由光检测器检测的光的光量来正确地判定光学元件的劣化是比较困难的。